Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Атомно силовая микроскопия

Атомно-силовая микроскопия — один из видов сканирующей зондовой микроскопии, основанный на ван-дер-ваальсовских взаимодействиях зонда с поверхностью образца

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Лабораторный тест на атомно-силовом микроскопе SmartSPM
9 800.00 ₽

Диапазон сканирования 100х100х15 мкм (±10 %); высокая линейность позволяет использовать сканер для метрологических приложений; малошумящие датчики обратной связи позволяют получать разрешение, при котором различимы атомарные ступеньки; максимальный размер образца 5х5х1 см. Используется обычный кантилевер (контактный/бесконтакнтный)

+ −
Купить в один клик