Сканирующая электронная микроскопия

Электронная сканирующая микроскопия – это использование оборудования, которое может давать увеличение в сотни тысяч крат. И именно этим объясняется возможность наблюдения за объектами сверхмалых размеров, а также получать не только информацию о их поверхности, но и о химическом составе верхних слоев исследуемого объекта.

60 000.00 

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+

20 000.00 

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

+


30 000.00 

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

+

112 000.00 

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+


14 000.00 

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

+

9 800.00 
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philipls SEM515
+

14 000.00 

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

+

24 000.00 
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro  с возможностью работы в низком...
+

99 000.00 
Исследование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS) (получение...
+

145 000.00 

Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

+