Каталог услуг

Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV

Сканирующий тест, анализ топографии поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроскопе Quanta 3D FEG

Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument

Рентгенофлуоресцентный метод спектрального анализа основан на сборе и анализе спектра, полученного после возбуждения характеристического рентгеновского излучения, которое возникает при переходе атома из возбуждённого в основное состояние. Атомы разных элементов испускают фотоны со строго определёнными энергиями, измерив которые можно определить качественный элементный состав. Для измерения количества элемента регистрируется интенсивность излучения с определённой энергией.

Аналитический метод анализа: Энергодисперсионный рентгеновской флуоресцентный

Измеряемые элементы, диапазон атомного номера от 12 до 92 [элементы от магния (Mg) до урана (U)] могут быть измерены

Одновременный анализ: до 40 элементов

Микрокомпьютер: настроенная система; CPU: 1G; Системная память: 1G; Расширение до 32G; Стандарт 4G

Аналитический диапазон: 1 ppm ~ 99,99>#/p###

Время анализа: 1 ~ 60 секунд

Встроенная система: GPS, WiFi, Bluetooth

Источник Питания: Аккумуляторная литиевая батарея, стандарт 9000mAh, устойчивое время работы до 12 часов; опционально 27000mAh superbattery с широким напряжением 110V ~ 220V, универсальный адаптер для подзарядки питания

Анализируемые материалы: твердые, жидкие вещества, порошки

Детектор: Кремниевый SDD или Fast-SDD детектор (опционально)

Минимальное разрешение детектора может достигать 128eV

Источник возбуждения: интегрированная миниатюрная серебрянная рентгеновская лучевая трубка 50кВ / 200uA и высоковольтный источник питания

Коллиматоры и фильтры: диаметры коллиматорв 4,0 мм и 2,0 мм, 6 видов фильтров с автоматическим переключением

Видеосистема: 5mpx пикселей камера высокого разрешения

Экран дисплея: Новый 5-дюймовый сенсорный экран трансфлективный ЖК-дисплей, разрешение 1080 x 720

Предел обнаружения: минимальные пределы обнаружения 1 ~ 500 ppm

Диапазон рабочих температур: от -20 до +50°C.

Габариты и вес:

Размеры инструмента 244мм (длина) x 90 мм (ширина) x 300 мм (высота)

Вес : 1,7 кг

Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm

Диапазон сканирования 100х100х15 мкм (±10 %); высокая линейность позволяет использовать сканер для метрологических приложений; малошумящие датчики обратной связи позволяют получать разрешение, при котором различимы атомарные ступеньки; максимальный размер образца 5х5х1 см. Используется обычный кантилевер (контактный/бесконтакнтный)

Эллипсометр Uvisel позволяет проводить анализ, исследования, тестирования свойств тонких пленок, проводить моделирование широкого круга образцов: анализировать многослойные, анизотропные, градиентные структуры, определять композиционный состав пленок, пористость и шероховатость. В базу данных DeltaPsi2 входит более 100 материалов и более 30 дисперсионных формул, а также алгоритмы анализа композиционных материалов. Все это позволяет исследовать образцы различной природы: полупроводники, диэлектрики и металлы, например, такие, как полимерные пленки, просветляющие покрытия, солнечные батареи, оптоэлектронные устройства и другие. Диапазон длин волн 190-2100 нм; угол падения от 35 до 90°; точность определения показателя преломления n~0,002

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.

Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.

Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных,  отраженных электронов и в режиме «напросвет».

Основные технические характеристики

Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ   
1нм

Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ
1,5 нм

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВ
не более 10 нм.

Диапазон регулировки увеличения
30¸800000 крат.

Диапазон измерения линейных размеров
0,02¸10000 мкм

Погрешность измерений линейных размеров не более
5 %.

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения
0,1¸30 кВ

Производитель:
Hitachi, Япония

Эллипсометр Auto SE объединяет максимальную эффективность анализа тонких пленок и простоту работы на приборе. Позволяет проводить исследования в полностью автоматическом режиме, путем нажатия одной кнопки. Измерение образца занимает всего несколько секунд, и результирующий отчет полностью описывает тонкопленочную структуру – толщины слоев, оптические константы, шероховатость поверхности и неоднородность слоев.

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором  IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

Разрешение по вертикали 0.5 нм; длина получаемого изображения 55 мм; диапазон перемещения по вертикали до 1.2 мм; предметный столик (диаметр 200 мм) с сервоприводами для установки образца; диапазон перемещения предметного столика 150х178 мм

Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI

Возможные тесты на приборе

• Качественный и количественный фазовый анализ слоев в тонкопленочных структурах и дисперсных системах. 
• Определение межплоскостных расстояний в кристаллических пленках в диапазоне линейных размеров от 0,004 до 10,000 нм. 
• Определяемая массовая доля отдельной фазы 0,1-100,0%;
• Определение микро- и макронапряжений в тонкопленочных структурах. 
• Модуль определяемых трехосных напряжений 0-400,0 МПа. 
• Определение профиля деформации в многослойных тонкопленочных структурах с пространственным разрешением 10 нм;
• Определение преимущественной ориентации кристаллитов в тонких пленках в многослойных структурах.

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT

Микроскоп двухлучевой электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.

Аналитическое исследование тестирование материалов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis 200 c корректором сферической аберрации в режиме изображений и высокоскоростным энергодисперсионным рентгеновским микроанализатором. 

Прибор используется для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.

Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных  расстояний  в режиме дифракции на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER

Система гель-документирования Gel Doc XR+ создана на базе CCD камеры высокого разрешения и чувствительности, и позволяет решать основные задачи анализа и документирования гелей и мембран. Gel Doc XR+ подходит для работы с широким спектром образцов, от полиакриламидных и агарозных гелей до блотов, и позволяет использовать такие методы детекции, как денситометрия, флуоресценция и колориметрия. Полная автоматизация всех процессов и программное обеспечение Image Lab позволяют быстро получать точные и воспроизводимые результаты.

Анализ питьевой воды по 33 показателям: pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др

Анализ воды из скважины по 16 показателям на pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др

Анализ питьевой воды по 55 показателям: pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др

Анализ воды из скважины по 22 показателям на pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

Анализ питьевой воды по 63 показателям: pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

Анализы и тесты методами проточной цитофлуорометрии, проведение клеточных исследований, фенотипирование клеток, анализ структуры клеточного цикла по содержанию ДНК на цитофлуориметре FC500

Анализ воды из скважины по 16 показателям на pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др

Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час

Анализ наночастиц, многоцветное иммунофенотипирование, анализ ДНК ,детектирование флуоресцентных белков, анализ стволовых клеток; подсчет числа клеток, исследование взаимодействия клеток с частицами на проточном цитометре CYTOFLEX

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.

Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.

Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.

Производитель: ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

Основные технические характеристики

Диффузионная длина (LD) 10 ÷ 2000 мкм при LD < t

Концентрация металла (Fe) 10⁹ ÷ 10¹³ см⁻³

Погрешность измерений: 15 ÷ 30 >#/p###

Анализ питьевой воды по 22 показателям: pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др

Анализ поверхности материалов и образцов методами оптической микроскопии на прямом микроскопе Carl Zeiss Axio Imager M2

Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR

Анализ воды из скважины по 58 показателям

Анализ воды из скважины по 58 показателям

Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.

Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды

Технические характеристики:
Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;
Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;
Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;
Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;
Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;
Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);
Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;
Полный автоматический контроль.

Анализ аминокислотного состава гидролизатов методом высокоэффективной жидкостной хроматографии с помощью аминокислотного анализатора Biochrom 30+ (5 комплектов образцов)

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM