Русский
Русский
English
($)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
Сотрудничество
Зарегистрировать лабораторию
Блог
Доставка
Контакты
Москва
Мой профиль
Заказы
Список сравнения
Отложенные товары
Отслеживание заказа
Отслеживание заказа
Войти
Регистрация
E-mail
Пароль
Забыли пароль?
Создать учетную запись
Войти
Запомнить
Поиск
+7(495)
661-61-09
Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок
Корзина пуста
Корзина пуста
Корзина
Оформить заказ
Меню
Каталог тестов
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
Больше
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуорометрия
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Типы анализов
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмасс и полимеров
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Заявка
Главная
/
Каталог услуг
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Микробиологические исследования и анализы
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Сортировать по популярности: по убыванию
Сортировать по времени: новинки выше
Сортировать по алфавиту: от А до Я
Сортировать по алфавиту: от Я до А
Сортировать по цене: дешевые выше
Сортировать по цене: дорогие выше
12 На страницу
24 На страницу
48 На страницу
50 На страницу
96 На страницу
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
$
68.77
Просмотр
Сканирующий тест, анализ топографии поверхности и под-поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроxскопе Quanta 3D FEG
$
95.22
Просмотр
Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument
$
158.70
Просмотр
Лабораторное исследование на времяпролетном вторично-ионном масс-спектрометре TOF SIMS-5-100
$
119.02
Просмотр
Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
$
63.48
Просмотр
Лабораторный тест на атомно-силовом микроскопе SmartSPM
$
129.60
Просмотр
Анализ пористости материалов, получение распределения пор по размерам, определение газовой и жидкостной проницаемости на порометре капиллярных потоков iPore 1500
$
396.75
Просмотр
Анализ свойств тонких пленок на эллипсометре Horiba Uvisel 2
$
34.38
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
$
238.05
Просмотр
Тестирование и анализ тонких пленок, тонкопленочной структуры, толщины слоев, оптических констант, шероховатости поверхности, неоднородности слоев на эллипсометре Auto SE
$
33.06
Просмотр
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
$
264.50
Просмотр
Анализ шероховатости на профилометре Alpha-Step D120
$
21.82
Просмотр
Назад
1
2
3
4
5
6
7
8
Вперед
2 - 16