Анализы исследование кофе натурального растворимого, измерение массовой доли влаги, золы, полной растворимости кофе
Анализы повидла, тестирование джема, измерение свойств варенья на массовую долю растворимых сухих веществ, титруемых кислот, составных частей
Анализы тесты исследования крахмала, измерение массовой доли сухих веществ, зольности, сернистого ангидрида, кислотности, цветной реакции с йодом, протеинов
Возможные тесты на приборе
Аналитическое исследование на синхронном термическом анализаторе STA 449 F3 (TGA/DSC)
Микроскоп двухлучевой электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.
Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды
Технические характеристики:Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;Полный автоматический контроль.
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
Биологическая визуализация и измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также химический анализ поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Выполнение лабораторного анализа определения концентрации ртути в жидкой пробе
Выполнение спектрального анализа Al, Ba, Bi, Cr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа Ca, Mg элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа Cd, Co , Cu, Fe, Mn, Ni, Pb, Zn элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа K, Li, Na, Sr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа элементов Ba, Ca, Fe, Li, Mg, Sr в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа элементов Ga, In, Tl в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа элементов K, Na в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Определение широкого спектра явлений на клеточном уровне: апоптоз; клеточный цикл; клеточное деление; клеточная миграция; клеточная морфология; изменение формы клеток; реорганизация цитоскелета; цитотоксичность; in situ флуоресцентная гибридизация (FISH); анализ липидных частиц; развитие нервных клеток; экспрессия белков; анализ сигнальных путей; активация рецепторов; РНК тестирование; факторы транскрипции (Система in vitro высококонтрастной визуализации (Operetta);