Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
Исследование ликёро-водочной продукции, анализ настоек, наливок, ликеров, вина
Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI
Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.
Исследование морфологии поверхности на сканирующем электронном микроскопе
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде
Исследование образца методом дифференциальной сканирующей калориметрии
Исследование образца методом ИК-микроскопии с помощью вакуумного ИК-Фурье спектрометра Vertex 70v и инфракрасного микроскопа HYPERION 3000
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
Исследование образца методом синхронного термического анализа (дифференциальная сканирующая калориметрия)
Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)
Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальный термический анализ)
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
Исследование пластмассы измерение модуля упругости, модуля потерь, тангенса угла потерь при нагревании
Микроскопы проходящего и отраженного света, они реализовывают все методы исследования и контрастирования, присущие этим способам освещения. Темное поле в отраженном свете с помощью эпи-объективов высокого класса и специальных конструкций гарантируют высокое качество и контраст в отраженном свете. Устойчивый штатив не выглядит массивным. В данном случае конструкция в виде "пирамиды" позволяет разместить элементы механического и электронного управления микроскопами компактно.