Каталог услуг


32 000.00 

Выполнение спектрального анализа элементов K, Na в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+

32 000.00 

Выполнение спектрального анализа элементов Ga, In, Tl в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

+

32 000.00 

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения

+

30 000.00 
Анализ пористости материалов, получение распределения пор по размерам, определение газовой и жидкостной проницаемости на порометре капиллярных потоков iPore...
+

30 000.00 

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

+

30 000.00 

спектральный анализ, ИК анализ, анализ газообразных продуктов, термическое разложение, анализ термического разложения

+




29 600.00 

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

+

28 000.00 

Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+




26 000.00 

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

+


25 000.00 

Определение катионного состава раствора методом капиллярного электрофореза системы капиллярного электрофореза Agilent 7100 (5 комплектов)

+

25 000.00 

Определение катионного состава раствора методом капиллярного электрофореза системы капиллярного электрофореза Agilent 7100 (5 комплектов)

+

25 000.00 

Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии со спектрофотометрическим и рефрактометрическим детектированием (5 комплектов обрацов)

+

24 000.00 

Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом. (TIMS-TOF-PRO, Ultimate 3000nano UPLC)

+

24 000.00 
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro  с возможностью работы в низком...
+


24 000.00 

Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием

+

24 000.00 

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

+

24 000.00 

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

+



22 000.00 

Количественный анализ состава образца методом газовой хромато-масс-спектрометрии высокого разрешения с использованием библиотек масс-спектров

+



20 000.00 

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором  IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

+

20 000.00 

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER

+

20 000.00 

Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.

Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды

titan

Технические характеристики:
Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;
Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;
Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;
Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;
Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;
Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);
Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;
Полный автоматический контроль.


+

20 000.00 

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

+



20 000.00 

тестирование истираемости, истираемость по Таберу, испытание на истираемость

+










20 000.00 

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

+