Каталог услуг

131.43

Диспергирование,  гомогенизация, перемешивание, смешение в потоке, эмульгирование на диспергаторе MagicLab

+

1,204.75

Идентификация белков методом масс-спектрометрии МАЛДИ с использованием баз данных Mascott с помощью времяпролетного масс-спектрометра AXIMA-RESONANCE (5 комплектов образцов)

+

131.43

Идентификация возбудителей внутрибольничных инфекций в лечебных учреждениях с оценкой чувствительности к антибактериальным препаратам. В ходе работ производится выделение чистой культуры, бактериологическая идентификация возбудителя, оценка антибиотикочувствительности, депонирование штаммов. Секвенирования геномов бактерий и экспресс диагностика (ПЦР- детекция) осуществляется согласно техническому заданию.

+

919.99

Идентификация микроорганизмов методом масс-спектрометрии с матрично-активированной лазерной десорбцией/ ионизацией (MALDI) с использованием базы данных SARAMIS (5 комплектов образцов)

+



131.43

Изготовление листа, ленты шириной до 200мм,  толщиной до 1,8 мм

+

131.43

Изготовление пленки 1,3-х  слойная от 30 до 250мкм

+

43.81

Измерение pH 

+



372.38

Измерение времени жизни электронно-возбужденных состояний молекул методом флуоресцентной спектроскопии с времякоррелированным счетом единичных фотонов с помощью спектрофлуориметра Fluorolog-3

+



65.71

Измерение динамической вязкости 

+











54.76

Измерение мутности суспензий , определение концентрации клеток , измерение мутности клеточных суспензий на Денситометре DEN-1B Bio-San

+







24.10

Измерение спектров поглощения в ультрафиолетовом, видимом и инфракрасном диапазонах на спектрофлуориметре FluoroMax 4 HORIBA

+








65.71

Фурье-спектрометр инфракрасный VERTEX 70 предназначен для измерения оптических спектров пропускания, отражения в дальнем, среднем, ближнем ИК диапазонах, а также в видимой и ультрафиолетовой областях электромагнитного спектра, определения концентрации различных веществ в твердой, жидкой и газообразной фазах исследуемых образцов.


+

219.05

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором  IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

+

87.62

Аналитическое исследование тестирование материалов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis 200 c корректором сферической аберрации в режиме изображений и высокоскоростным энергодисперсионным рентгеновским микроанализатором. 

Прибор используется для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.

+


71.19

STA 409PC, STA 429CD, STA 449C, TG 209C используются для выполнения измерений термодинамических характеристик (температура и энтальпия фазовых переходов, теплоемкость) твердых и порошкообразных образцов, для контроля качества в фармакологии, строительстве, в производстве биосинтетических препаратов, а также исследования в химии, физике, материаловедении, металлургии, биологии. Диапазоны измерения: температуры, °С от -160 до 2400 от -1270 до 1650 от 20 до 1000 от 20 до 1600 энтальпии от 1 до 100 кДж/кг теплоемкости от 100 до 3000 Дж/кг*К. Погрешности T1,5,5 % T3% T3%.

+

1,084.28

Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+

Свяжитесь с нами насчёт цены

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM


657.14

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+

219.05

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

+