Каталог услуг


20 000.00 

Качественный анализ состава образца методом газовой хромато-масс-спектрометрии высокого разрешения с использованием библиотек масс-спектров

+

20 000.00 

Физико-химический анализ почв

+

19 000.00 

Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.

Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.

Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.

Производитель: ЗАО “НТ-МДТ”, Россия

Основные технические характеристики

Диффузионная длина (LD) 10 ÷ 2000 мкм при LD < t

Концентрация металла (Fe) 10⁹ ÷ 10¹³ см⁻³

Погрешность измерений: 15 ÷ 30 >#/p###

+




19 000.00 

Лабораторный анализ концентрации ртути в твердых веществах

+

19 000.00 
Описание лабораторной услуги: Разделение смесей методом препаративной высокоэффективной жидкостной хроматографии с помощью препаративной...
+

18 000.00 

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.

Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.

Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных,  отраженных электронов и в режиме «напросвет».

Основные технические характеристики

Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ   
1нм

Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ
1,5 нм

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВ
не более 10 нм.

Диапазон регулировки увеличения
30¸800000 крат.

Диапазон измерения линейных размеров
0,02¸10000 мкм

Погрешность измерений линейных размеров не более
5 %.

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения
0,1¸30 кВ

Производитель:
Hitachi, Япония

+


18 000.00 

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT

+






18 000.00 

Выполнение лабораторного анализа определения концентрации ртути в жидкой пробе

+

18 000.00 

Исследование образца методом ИК-микроскопии с помощью вакуумного ИК-Фурье спектрометра Vertex 70v и инфракрасного микроскопа HYPERION 3000

+



17 500.00 

Секвенирование  на HiSeq 4000, 300 циклов, 1 из 8 дорожек

+

17 000.00 
Исследования наличия посторонних частиц в электронных приборах на установке контроля акустических шумов LPD-D4000. Это система, которая вам понадобится для...
+

16 000.00 

Микроскоп двухлучевой электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.

+



15 800.00 

Секвенирование на MiniSeq, 300 циклов, 1 запуск

+

15 000.00 

Анализ полимеров, измерение вязкости раствора полимера от 23 до +250С  

Используемое оборудование: Ротационный вискозиметр расплава Брукфельда


+



15 000.00 

Элементный анализ жидких проб (CNS) (5 комплектов образцов) элементный анализ, анализ жидких проб, анализ углерода, элементный анализатор, тестирование серы, анализ водорода, исследование органики, количественный анализ кислорода, определение углерода, анализ концентрации хлора

+


14 000.00 

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

+

14 000.00 

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

+


13 700.00 

Секвенирование  на HiSeq 4000, 150 циклов, 1 из 8 дорожек

+

13 000.00 

Проведение спектрального элементного анализа одного элемента твердой пробы на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в печи (комплект из 5 образцов) 

+


12 000.00 

Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument

Рентгенофлуоресцентный метод спектрального анализа основан на сборе и анализе спектра, полученного после возбуждения характеристического рентгеновского излучения, которое возникает при переходе атома из возбуждённого в основное состояние. Атомы разных элементов испускают фотоны со строго определёнными энергиями, измерив которые можно определить качественный элементный состав. Для измерения количества элемента регистрируется интенсивность излучения с определённой энергией.

Аналитический метод анализа: Энергодисперсионный рентгеновской флуоресцентный

Измеряемые элементы, диапазон атомного номера от 12 до 92 [элементы от магния (Mg) до урана (U)] могут быть измерены

Одновременный анализ: до 40 элементов

Микрокомпьютер: настроенная система; CPU: 1G; Системная память: 1G; Расширение до 32G; Стандарт 4G

Аналитический диапазон: 1 ppm ~ 99,99>#/p###

Время анализа: 1 ~ 60 секунд

Встроенная система: GPS, WiFi, Bluetooth

Источник Питания: Аккумуляторная литиевая батарея, стандарт 9000mAh, устойчивое время работы до 12 часов; опционально 27000mAh superbattery с широким напряжением 110V ~ 220V, универсальный адаптер для подзарядки питания

Анализируемые материалы: твердые, жидкие вещества, порошки

Детектор: Кремниевый SDD или Fast-SDD детектор (опционально)

Минимальное разрешение детектора может достигать 128eV

Источник возбуждения: интегрированная миниатюрная серебрянная рентгеновская лучевая трубка 50кВ / 200uA и высоковольтный источник питания

Коллиматоры и фильтры: диаметры коллиматорв 4,0 мм и 2,0 мм, 6 видов фильтров с автоматическим переключением

Видеосистема: 5mpx пикселей камера высокого разрешения

Экран дисплея: Новый 5-дюймовый сенсорный экран трансфлективный ЖК-дисплей, разрешение 1080 x 720

Предел обнаружения: минимальные пределы обнаружения 1 ~ 500 ppm

Диапазон рабочих температур: от -20 до +50°C.

Габариты и вес:

Размеры инструмента 244мм (длина) x 90 мм (ширина) x 300 мм (высота)

Вес : 1,7 кг


+

12 000.00 
Наблюдение и измерение топографии поверхности различных образцов в микронном масштабе. Позволяет получать 3D изображение поверхности образца, при диапазоне...
+

12 000.00 

Идентификация возбудителей внутрибольничных инфекций в лечебных учреждениях с оценкой чувствительности к антибактериальным препаратам. В ходе работ производится выделение чистой культуры, бактериологическая идентификация возбудителя, оценка антибиотикочувствительности, депонирование штаммов. Секвенирования геномов бактерий и экспресс диагностика (ПЦР- детекция) осуществляется согласно техническому заданию.

+

12 000.00 

Секвенирование  на HiSeq 4000, 50 циклов, 1 из 8 дорожек

+


12 000.00 

Анализ колбасы вареной, исследование сосисок, тест сарделек, тестирование мясных изделий, анализ колбасы на влажность, измерение крахмала в колбасах, анализ жирности сарделек, тест белка в мясных изделиях, измерение зольности в сардельках, анализ фосфора в колбасах, измерение нитритов в колбасных изделиях, тест фосфатазы в колбасах 

+