Каталог услуг

32 000.00 

Выполнение спектрального анализа элементов K, Na в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+

45 000.00 

Выполнение спектрального анализа элементов Ba, Ca, Fe, Li, Mg, Sr в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов) 

+

45 000.00 

Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+






5 500.00 

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

+


10 800.00 
Описание лабораторного тестирования: Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии Используемое...
+

12 000.00 

Проведение автоклавной обработки образца растворителем в сверхкритическом состоянии

+

8 800.00 

Проведение процесса высушивания образца сверхкритическим диоксидом углерода

+

5 400.00 

проведение сверхкритической флюидной экстракции, сверхкритическая флюидная экстракция, СКФЭ, проведение СКФЭ

+

6 000.00 

Исследование фазовых равновесий в среде сверхкритического флюида

+












200 000.00 

Регистрация,  расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

+

68 000.00 

Регистрация,  расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

+









20 000.00 

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

+


12 000.00 

Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)

+




9 000.00 

Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии

+

9 000.00 

Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии

+





3 000.00 

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

+