Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Поляриметр 341 модели производства фирмы ПеркинЭлмер (США) - универсальный прибор с поляризатором Глена-Тейлора и двумя лампами – Na и Hg, который предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации оптически активными прозрачными и однородными растворами и жидкостями.
регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра, ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости
Исследование водопоглощения пластмасс
Исследование бараночных и сухарных изделий на влажность, кислотность, сахар, жирность
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test
Испытания на растяжение, исследование прочности, измерение предела текучести пленок, полимеров, пластмасс, полиэтилена, полимерных композитов
Испытание резины, полимерных пленок, геомембран на раздир
Испытание прочности сварного шва из винипласта, поливинилхлоридного пластиката и полиэтилена
Испытание пластмассы на сжатие
Испытание пластмассы на изгиб
Испытание пластиков и полимеров УФ-старением
Испытание на усилие на прокол для пленочных материалов
Испытание на стойкость к удару шаровым копром
Испытание на стойкость к удару шаровым копром диаметром 50 мм
Испытание на стойкость к удару шаровым копром диаметром 16 мм
Испытание адгезия клея при нормальном отрыве методом грибка, определение прочности при отрыве
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
STA 409PC, STA 429CD, STA 449C, TG 209C используются для выполнения измерений термодинамических характеристик (температура и энтальпия фазовых переходов, теплоемкость) твердых и порошкообразных образцов, для контроля качества в фармакологии, строительстве, в производстве биосинтетических препаратов, а также исследования в химии, физике, материаловедении, металлургии, биологии. Диапазоны измерения: температуры, °С от -160 до 2400 от -1270 до 1650 от 20 до 1000 от 20 до 1600 энтальпии от 1 до 100 кДж/кг теплоемкости от 100 до 3000 Дж/кг*К. Погрешности T1,5,5 % T3% T3%.
Измерения свойств консерв мясных, анализ паштета и фарша на массовую долю крахмала, поваренной соли, нитратов, жира, белка
Аналитическое исследование тестирование материалов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis 200 c корректором сферической аберрации в режиме изображений и высокоскоростным энергодисперсионным рентгеновским микроанализатором.
Прибор используется для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.
Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.
Фурье-спектрометр инфракрасный VERTEX 70 предназначен для измерения оптических спектров пропускания, отражения в дальнем, среднем, ближнем ИК диапазонах, а также в видимой и ультрафиолетовой областях электромагнитного спектра, определения концентрации различных веществ в твердой, жидкой и газообразной фазах исследуемых образцов.
Измерение удельного и объемного электросопротивления электроизоляционных материалов
Измерение ударной прочности и анализ вязкости пластмасс и полимеров по Шарпи
Измерение толщины полимерного покрытия на металлической подложке
Измерение температуры стеклования пластмасс по ГОСТ Р 56753
Измерение температуры размягчения пластмасс, термопластов по ВИКА
Измерение температуры размягчения битумов, адгезивов по методу "Кольцо -Шар"
Измерение твердости пластмасс и полимеров по ШОРУ А, ШОРУ Д
Измерение спектров поглощения в ультрафиолетовом, видимом и инфракрасном диапазонах на спектрофлуориметре FluoroMax 4 HORIBA
Измерения свойств мясо-растительных консерв, анализ сосисок на массовую долю крахмала, поваренной соли, нитритов, жира, белка
Измерение размера наночастиц; измерение дзета-потенциала коллоидов и наночастиц, измерение абсолютной молекулярной массы макромолекул на Zetasizer Nano ZS
Измерение прочности, исследование твердости древесины на испытательной машине
Измерение показателя текучести расплава термопластов, анализ исследование пластмасс
Измерение плотности геометрическим обмером
Измерение мутности суспензий , определение концентрации клеток , измерение мутности клеточных суспензий на Денситометре DEN-1B Bio-San
Измерение молекулярной массы полимеров методом гель-проникающей хроматографии
Измерение массовой концентрации фосфат-ионов в питьевых, поверхностных и сточных водах фотометрическим методом с молибдатом аммония ПНД Ф 14.1:2:4.112-97
Измерение массовой доли влаги, анализ влажности