Определение суммарного содержания растворимых протеинов в жмыхе на установке для разложения по методу Къельдаля Turbotherm по стандарту ГОСТ 13979.3-68
Определение содержания небелкового азота в молоке и молочных продуктах с применением метода Кьельдаля на установке для разложения по методу Къельдаля Turbotherm по стандарту ГОСТ 23327-98
Определение массовой доли общего азота по Кьельдалю и определение массовой доли белка на установке для разложения по методу Къельдаля Turbotherm
Количественное определение 9-ти водорастворимых витаминов: витамины группы В: тиамин (В1), рибофлавин (В2), никотиновая кислота (РРк), никотинамид (РРа), пантотеновая кислота (В5), пиридоксин (В6), биотин (Н), фолиевая кислота (В9), цианокоболамин (В12)
Определение триптофана (TRP) методом ионнообменной хроматографии с постколоночной дереватизацией нингидрином на Аминокислотном анализаторе LC-20 Prominence
Определение широкого спектра явлений на клеточном уровне: апоптоз; клеточный цикл; клеточное деление; клеточная миграция; клеточная морфология; изменение формы клеток; реорганизация цитоскелета; цитотоксичность; in situ флуоресцентная гибридизация (FISH); анализ липидных частиц; развитие нервных клеток; экспрессия белков; анализ сигнальных путей; активация рецепторов; РНК тестирование; факторы транскрипции (Система in vitro высококонтрастной визуализации (Operetta);
Анализ наночастиц, многоцветное иммунофенотипирование, анализ ДНК ,детектирование флуоресцентных белков, анализ стволовых клеток; подсчет числа клеток, исследование взаимодействия клеток с частицами на проточном цитометре CYTOFLEX
Измерение размера наночастиц; измерение дзета-потенциала коллоидов и наночастиц, измерение абсолютной молекулярной массы макромолекул на Zetasizer Nano ZS
Измерение спектров поглощения в ультрафиолетовом, видимом и инфракрасном диапазонах на спектрофлуориметре FluoroMax 4 HORIBA
Биологическая визуализация и измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также химический анализ поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
Секвенирование на HiSeq 4000, 50 циклов, 1 из 8 дорожек
Секвенирование на HiSeq 4000, 150 циклов, 1 из 8 дорожек
Секвенирование на HiSeq 4000, 300 циклов, 1 из 8 дорожек
Секвенирование на MiniSeq, 75 циклов, 1 запуск
Секвенирование на MiniSeq, 150 циклов, 1 запуск
Секвенирование на MiniSeq, 300 циклов, 1 запуск
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
Определение элементного состава с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии с картированием по 3 областям на ПЭМ микроскопе Titan Themis Z
Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
Геометрические измерения в X Y Z плоскости с точностью до 1 мкм на видеоизмерительной машине
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
Микроскоп двухлучевой электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.
Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды
Технические характеристики:Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;Полный автоматический контроль.
Пробоподготовка, обессоливание образца ZipTip (до 25 мкг)
Гидролиз белка (образец до 100 мкг) трипсином в растворе/в геле
Масс-спектрометрический анализ образца с использованием MALDI-TOF
Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом. (TIMS-TOF-PRO, Ultimate 3000nano UPLC)
Хромато-масс-спектрометрический анализ метаболитов/низкомолекулярных соединений (QExactive, Waters UPLC)
Краткое описание услуги: Хромато-масс-спектрометрическое профилирование метаболома, липидома, Метаболомный анализ клинических образцов.
Оборудование:
Q-Exactive (Thermo Scientific), Waters UPLC (Waters)
Гидролиз белка (образец до 100 мкг) трипсином по протоколу FASP
Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 мкм на 15 мкм.
Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600