English
Русский
English
(₽)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
О проекте
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Сотрудничество
Контакты
Москва
Мой профиль
Orders
Comparison list
Wish list
Track my order(s)
Track my order(s)
Sign in
Register
E-mail
Password
Forgot your password?
Register for a new account
Sign in
Remember me
Поиск
+7(495)
661-61-09
Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call
Cart is empty
Cart is empty
View cart
Checkout
Menu
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
View more
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуориметрия
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
123456
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмассы
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Скидки
Home
/
Каталог услуг
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Микробиологические исследования и анализы
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Sort by Popularity
Newest Items First
Sort Alphabetically: A to Z
Sort Alphabetically: Z to A
Sort by Price: Low to High
Sort by Price: High to Low
24 Per Page
12 Per Page
48 Per Page
50 Per Page
96 Per Page
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
5 200.00
₽
Quick view
Сканирующий тест, анализ топографии поверхности и под-поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроxскопе Quanta 3D FEG
7 200.00
₽
Quick view
Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument
12 000.00
₽
Quick view
Лабораторное исследование на времяпролетном вторично-ионном масс-спектрометре TOF SIMS-5-100
9 000.00
₽
Quick view
Анализ пористости материалов, получение распределения пор по размерам, определение газовой и жидкостной проницаемости на порометре капиллярных потоков iPore 1500
30 000.00
₽
Quick view
Лабораторный тест на атомно-силовом микроскопе SmartSPM
9 800.00
₽
Quick view
Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
4 800.00
₽
Quick view
Анализ свойств тонких пленок на эллипсометре Horiba Uvisel 2
2 600.00
₽
Quick view
Тестирование и анализ тонких пленок, тонкопленочной структуры, толщины слоев, оптических констант, шероховатости поверхности, неоднородности слоев на эллипсометре Auto SE
2 500.00
₽
Quick view
Исследования наличия наличия посторонних частиц в электронных приборах на установке контроля акустических шумов LPD-D4000
17 000.00
₽
Quick view
Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI
8 200.00
₽
Quick view
Анализ шероховатости на профилометре Alpha-Step D120
1 650.00
₽
Quick view
Аналитическое исследование на качественный и количественный фазовый и структурный анализ порошков, тонких пленок, дисперсных систем
5 500.00
₽
Quick view
Анализ топографии поверхности и получение 3D изображений образца на лазерном конфокальном сканирующем микроскопе Lasertech VL2000DX
12 000.00
₽
Quick view
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00
₽
Quick view
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
20 000.00
₽
Quick view
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
18 000.00
₽
Quick view
Измерения размеров микро- и нано-структуры тонкопленочных образцов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis
8 000.00
₽
Quick view
Измерение поверхностного сопротивления, удельного сопротивления, среднего сопротивления образца на установке QuadroPro
2 500.00
₽
Quick view
Анализ химического строения твердых и жидких тел, механических напряжений в полупроводниках, характеризация углеродных нанотрубокотраслях промышленности, при исследовании полимеров на рамановском спектрометре MICRO-S-RAMAN
19 000.00
₽
Quick view
Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных расстояний в режиме дифракции на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100
18 000.00
₽
Quick view
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
20 000.00
₽
Quick view
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
16 000.00
₽
Quick view
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
9 800.00
₽
Quick view
Prev
1
2
3
4
5
6
7
8
Next
2 - 16