Качественный анализ образцов методом масс-спектрометрии МАЛДИ с помощью времяпролетного масс-спектрометра AXIMA-RESONANCE (5 комплектов образцов)
Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
Количественный анализ образца методом жидкостной гибридной хромато-масс-спектрометрии высокого разрешения с помощью времяпролётного масс-спектрометра Triple TOF 5600 (5 комплектов образцов)
Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Количественный анализ полициклических ароматических углеводородов в воде и воздухе методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (5 комплектов образцов)
Анализ и исследование стойкости пластмассы, полиэтилена к растрескиванию в течение 1000 часов
Количественный анализ органических соединений методом тандемной газовой хромато-масс-спектрометрии (комплект 5 образцов)
Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Получение 'Н ЯМР-спектра образца
Определение элементного состава с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии с картированием по 3 областям на ПЭМ микроскопе Titan Themis Z
Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)
Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Количественный анализ образца методом жидкостной гибридной хромато-масс-спектрометрии (5 комплектов образцов)
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
Определение молекулярно-массового распределения полимеров методом эксклюзионной хроматографии с детектированием MALLS (5 комплектов образцов)
Количественный анализ образца методом жидкостной тандемной хромато-масс-спектрометрии (5 комплектов образцов)
Измерение молекулярной массы полимеров методом гель-проникающей хроматографии
Количественный анализ образца методом жидкостной хромато-масс-спектрометрии (5 комплектов образцов)
Количественный анализ органических соединений методам газовой хроматографии
Количественный анализ органических соединений методом сверхкритической флюидной хроматографии с помощью СКФ ультрапроизводительной хроматографической системы Acquity UPS2 с термостатом для 6 колонок с комплектующими и опциями (комплект 5 образцов)
Определение теплоты растворения образца методами полуадиабатической калориметрии растворения
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии с электрохимическим детектированием с помощью хроматографического комплекса на базе жидкостного хроматографа LC-20
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии