Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Выполнение спектрального анализа элементов K, Na в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа элементов Ga, In, Tl в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
спектральный анализ, ИК анализ, анализ газообразных продуктов, термическое разложение, анализ термического разложения
Исследование твердого образца методом пиролитической газовой хромато-масс спектрометрии
Количественное определение хлора в образцах с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)
Определение катионного состава образца методом ионной хроматографии (5 комплектов образцов)
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа
Регистрация 13С ЯМР-спектра твердого образца
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)
Определение анионного состава образца методом ионной хроматографии (5 комплектов образцов)
Определение катионного состава раствора методом капиллярного электрофореза системы капиллярного электрофореза Agilent 7100 (5 комплектов)
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии со спектрофотометрическим и рефрактометрическим детектированием (5 комплектов обрацов)
Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом. (TIMS-TOF-PRO, Ultimate 3000nano UPLC)
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
Определение квантового выхода люминесценции жидкого образца
Определение квантового выхода люминесценции твердого образца
Количественный анализ состава образца методом газовой хромато-масс-спектрометрии высокого разрешения с использованием библиотек масс-спектров
Сверхкритические флюидные технологии: Проведение сверхкритической флюидной экстракции образца
Определение теплоемкости образца в зависимости от температуры методом дифференциальной сканирующей калориметрии
Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.
Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды
Технические характеристики:Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;Полный автоматический контроль.
Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен
Тестирование хрупкости пластмассы ударом при низкой температуре
Термоциклирование от -60 до +90С в течение суток
тестирование истираемости, истираемость по Таберу, испытание на истираемость
Тестирование на стойкость к горению, испытания материалов на воспламеняемость
Измерение кислородного индекса, определение индекса максимального содержания кислорода
Измерение газопроницаемости
Измерение температуры стеклования пластмасс по ГОСТ Р 56753
Измерение температуры размягчения пластмасс, термопластов по ВИКА
Определение коэффициента линейного теплового расширения пластмасс посредством термомеханического анализа
Исследование пластмассы измерение модуля упругости, модуля потерь, тангенса угла потерь при нагревании
Количественное определение галогенов в органических соединениях
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
Определение цвета образца методом спектроскопии диффузного отражения с помощью спектрофотометра Specord 250Plus