Русский
Русский
English
(₽)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
Сотрудничество
Зарегистрировать лабораторию
Блог
Доставка
Контакты
Москва
Мой профиль
Заказы
Список сравнения
Отложенные товары
Отслеживание заказа
Отслеживание заказа
Войти
Регистрация
E-mail
Пароль
Забыли пароль?
Создать учетную запись
Войти
Запомнить
Поиск
+7(495)
661-61-09
Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок
Корзина пуста
Корзина пуста
Корзина
Оформить заказ
Меню
Каталог тестов
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
Больше
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуорометрия
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Типы анализов
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмасс и полимеров
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Заявка
Главная
/
Каталог услуг
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Микробиологические исследования и анализы
Физико-механические испытания
Физико-химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
Сортировать по алфавиту: от А до Я
Сортировать по времени: новинки выше
Сортировать по алфавиту: от Я до А
Сортировать по цене: дешевые выше
Сортировать по цене: дорогие выше
Сортировать по популярности: по убыванию
48 На страницу
12 На страницу
24 На страницу
50 На страницу
96 На страницу
Измерения термодинамических характеристик, температуры и энтальпии фазовых переходов, теплоемкости твердых и порошкообразных образцов на приборе синхронного термического анализа Netzsch STA 409 PC
КОД:
6 500.00
₽
+
−
В корзину
Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
КОД:
99 000.00
₽
+
−
В корзину
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
КОД:
Свяжитесь с нами насчёт цены
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
КОД:
60 000.00
₽
+
−
В корзину
Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
КОД:
20 000.00
₽
+
−
В корзину
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
КОД:
60 000.00
₽
+
−
В корзину
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
КОД:
30 000.00
₽
+
−
В корзину
Испытание адгезия клея при нормальном отрыве методом грибка, определение прочности при отрыве
КОД:
12 000.00
₽
+
−
В корзину
Испытание на стойкость к удару шаровым копром диаметром 16 мм
КОД:
10 000.00
₽
+
−
В корзину
Испытание на стойкость к удару шаровым копром диаметром 50 мм
КОД:
10 000.00
₽
+
−
В корзину
Испытание на стойкость к удару шаровым копром диаметром 8 мм
КОД:
10 000.00
₽
+
−
В корзину
Испытание на усилие на прокол для пленочных материалов и кожи
КОД:
10 000.00
₽
+
−
В корзину
Испытание пластиков и полимеров УФ-старением
КОД:
1 000.00
₽
+
−
В корзину
Испытание пластмассы на изгиб
КОД:
12 000.00
₽
+
−
В корзину
Испытание пластмассы на сжатие
КОД:
12 000.00
₽
+
−
В корзину
Испытание прочности сварного шва из винипласта, поливинилхлоридного пластиката и полиэтилена
КОД:
12 000.00
₽
+
−
В корзину
Испытание резины, полимерных пленок, геомембран на раздир
КОД:
12 000.00
₽
+
−
В корзину
Испытания на растяжение, исследование прочности, измерение предела текучести пленок, полимеров, пластмасс, полиэтилена, полимерных композитов
КОД:
12 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test
КОД:
12 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 90°
КОД:
12 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование бараночных и сухарных изделий на влажность, кислотность, сахар, жирность
КОД:
4 900.00
₽
+
−
В корзину
Исследование водопоглощения пластмасс
КОД:
10 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование и анализ ИК спектра твердого образца в таблетке КВг в диапазоне 3000 - 600 см'1
КОД:
3 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование и анализ оптически активных соединений на спектрополяриметре Perkin Elmer 341
КОД:
5 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование клеточного цикла, количественный анализ ДНК, анализ тромбоцитов, исследование цитоморфологической принадлежности клетки на проточном цитофлюориметре ACEA NovoCyte
КОД:
5 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
КОД:
112 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
КОД:
20 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование ликёро-водочной продукции, анализ настоек, наливок, ликеров, вина
КОД:
6 800.00
₽
+
−
В корзину
Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI
КОД:
8 200.00
₽
+
−
В корзину
Исследование молекулярного примесного и элементного состава высокочистых веществ посредством ИК-Фурье спектрометра Bruker Tensor 27
КОД:
4 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе
КОД:
9 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
КОД:
14 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
КОД:
4 800.00
₽
+
−
В корзину
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
КОД:
5 500.00
₽
+
−
В корзину
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде
КОД:
14 200.00
₽
+
−
В корзину
Исследование образца методом дифференциальной сканирующей калориметрии
КОД:
8 900.00
₽
+
−
В корзину
Исследование образца методом ИК-микроскопии с помощью вакуумного ИК-Фурье спектрометра Vertex 70v и инфракрасного микроскопа HYPERION 3000
КОД:
18 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
КОД:
3 500.00
₽
+
−
В корзину
Исследование образца методом синхронного термического анализа (дифференциальная сканирующая калориметрия)
КОД:
18 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)
КОД:
72 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальный термический анализ)
КОД:
9 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
КОД:
3 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
КОД:
2 400.00
₽
+
−
В корзину
Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
КОД:
5 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование оптических параметров полупроводниковых материалов на ИК-Фурье спектрометре высокого разрешения Bruker IFS-113v
КОД:
4 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование пластмассы измерение модуля упругости, модуля потерь, тангенса угла потерь при нагревании
КОД:
20 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование поверхности методами оптической микроскопии на универсальном микроскопе отраженного света Carl Zeiss Axioplan 2
КОД:
2 000.00
₽
+
−
В корзину
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
КОД:
9 800.00
₽
+
−
В корзину
Назад
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Вперед