Научные аналитические исследования и тесты

Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

Определение элементного состава с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии с картированием по 3 областям на ПЭМ микроскопе Titan Themis Z

Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z

Геометрические измерения в X Y Z плоскости с точностью до 1 мкм на видеоизмерительной машине

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

Микроскоп двухлучевой электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.

Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час

Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.

Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды

Технические характеристики:
Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;
Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;
Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;
Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;
Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;
Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);
Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;
Полный автоматический контроль.

Пробоподготовка, обессоливание образца ZipTip (до 25 мкг)

Масс-спектрометрический анализ образца с использованием MALDI-TOF

Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом. (TIMS-TOF-PRO, Ultimate 3000nano UPLC)

Хромато-масс-спектрометрический анализ метаболитов/низкомолекулярных соединений (QExactive, Waters UPLC)

Краткое описание услуги:  Хромато-масс-спектрометрическое профилирование метаболома, липидома, Метаболомный анализ клинических образцов. 

Оборудование: 

Q-Exactive (Thermo Scientific), Waters UPLC (Waters)

Хромато-масс-спектрометрический анализ метаболитов/низкомолекулярных соединений (QExactive, Waters UPLC)

Краткое описание услуги:  Хромато-масс-спектрометрическое профилирование метаболома, липидома, Метаболомный анализ клинических образцов. 

Оборудование: 

Q-Exactive (Thermo Scientific), Waters UPLC (Waters)

Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 мкм на 15 мкм. 

Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600

Исследования и анализ спектров люминесценции, измерение времен жизни возбужденных состояний молекул, исследование молекулярной динамики на Спектрофлуориметре Fluorolog-3 HORIBA

Поляриметр 341 модели производства фирмы ПеркинЭлмер (США) - универсальный прибор с поляризатором Глена-Тейлора и двумя лампами – Na и Hg, который предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации оптически активными прозрачными и однородными растворами и жидкостями.

Исследование строения и свойств молекул и молекулярных систем, динамики внутри-межмолекулярных обменных процессов, реакционной способности новых классов органических, элементорганических соединений и полимеров в растворах на Спектрометре ЯМР Bruker Avance II 400

Структурные исследования органических, металлоорганических и неорганических соединений в жидкости, анализ состава и чистоты химических соединений, анализ сложных смесей соединений на спектрометре ЯМР Bruker Avance III 500

Система гель-документирования Gel Doc XR+ создана на базе CCD камеры высокого разрешения и чувствительности, и позволяет решать основные задачи анализа и документирования гелей и мембран. Gel Doc XR+ подходит для работы с широким спектром образцов, от полиакриламидных и агарозных гелей до блотов, и позволяет использовать такие методы детекции, как денситометрия, флуоресценция и колориметрия. Полная автоматизация всех процессов и программное обеспечение Image Lab позволяют быстро получать точные и воспроизводимые результаты.

Качественные анализы и количественные измерения химического и элементного состава органических и неорганических веществ на хромато-масс-спектрометре GCMS-QP2010 Ultra

Масс-спектральные тесты предназначены для измерений содержания компонентов, входящих в состав органических и неорганических смесей веществ на MALDI-TOF Autoflex III

Измерение поверхности: лазерный сканирующий микроскоп LSM 5 Exciter - с помощью лазерного сканирующего микроскопа LSM 5 Exciter компания Carl Zeiss MicroImaging предлагает пользователям, занимающимся исследованиями материалов и анализом качества, микроскопическую систему, которая также анализирует относительно мягкие материалы, такие как полимеры, с помощью бесконтактной процедуры и с высокой точностью измерения и разрешением. Микроскоп увеличивает скорость, надежность и удобство анализа материала. Специальные функции программного обеспечения позволяют проводить количественный анализ поверхности и анализ материалов. С помощью бесконтактной конфокальной техники можно визуализировать и измерить 2D- и 3D-топографии, определить шероховатость и волнистость, а также измерить пористость и объемное содержание с высокой степенью качества и надежности.

Фурье-спектрометр инфракрасный VERTEX 70 предназначен для измерения оптических спектров пропускания, отражения в дальнем, среднем, ближнем ИК диапазонах, а также в видимой и ультрафиолетовой областях электромагнитного спектра, определения концентрации различных веществ в твердой, жидкой и газообразной фазах исследуемых образцов.

Измерение мутности суспензий , определение концентрации клеток , измерение мутности клеточных суспензий на Денситометре DEN-1B Bio-San

Идентификация возбудителей внутрибольничных инфекций в лечебных учреждениях с оценкой чувствительности к антибактериальным препаратам. В ходе работ производится выделение чистой культуры, бактериологическая идентификация возбудителя, оценка антибиотикочувствительности, депонирование штаммов. Секвенирования геномов бактерий и экспресс диагностика (ПЦР- детекция) осуществляется согласно техническому заданию.

Идентификация микроорганизмов с помощью MALDI Biotyper – современный, быстрый и рентабельный метод, основанный на масс-спектрометрическом анализе. Любая микробиологическая лаборатория оценит возможность прямой идентификации колонии МО уже после первичного посева, быструю и простую пробоподготовку, возможность работы с положительными гемокультурами, мочой, ликвором и жидкими средами, содержащих достаточное количество микроорганизмов.

Оптический микроскопический тест лабораторное исследование с возможностью документирования на микроскопе PrimoStar пр-ва Carl Zeiss 

STA 409PC, STA 429CD, STA 449C, TG 209C используются для выполнения измерений термодинамических характеристик (температура и энтальпия фазовых переходов, теплоемкость) твердых и порошкообразных образцов, для контроля качества в фармакологии, строительстве, в производстве биосинтетических препаратов, а также исследования в химии, физике, материаловедении, металлургии, биологии. Диапазоны измерения: температуры, °С от -160 до 2400 от -1270 до 1650 от 20 до 1000 от 20 до 1600 энтальпии от 1 до 100 кДж/кг теплоемкости от 100 до 3000 Дж/кг*К. Погрешности T1,5,5 % T3% T3%.

Исследование тепловых эффектов, измерение теплоемкости, исследование фазовых переходов на термогравиметрическом ДСК анализаторе Netzsch DSC 404 F Pegasus