Научные аналитические исследования и тесты

Научные аналитические исследования и тесты. Научное исследование - это практическое применение набора методических исследовательских процессов, используемых исследователем для разработки исследования. Для него характерно дисциплинированное расследование, которое следует формальным правилам процедур для получения необходимой информации и выдвижения гипотез, подтверждающих анализ, проведенный исследователем

90 000.00 
Описание лабораторного исследования: Анализ аминокислотного состава физиологических жидкостей методом высокоэффективной жидкостной хроматографии с...
+



5 000.00 

Анализ воды из скважины по 16 показателям на pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др

+


7 000.00 

Анализ воды из скважины по 16 показателям на pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др

+



12 000.00 

Анализ и испытания степени сшивки, определения отношения содержания и выпуклости гель-фракций 

+



5 000.00 
Как правило не используется для подтверждения качества источников централизованного водоснабжения, но подходит для источников нецентрализованного...
+

8 000.00 
Как правило не используется для подтверждения качества источников централизованного водоснабжения, но подходит для источников нецентрализованного...
+

12 000.00 
Как правило не используется для подтверждения качества источников централизованного водоснабжения, но подходит для источников нецентрализованного...
+

18 000.00 
Как правило не используется для подтверждения качества источников централизованного водоснабжения, но подходит для источников нецентрализованного...
+

4 000.00 

Анализ поверхности материалов и образцов методами оптической микроскопии на прямом микроскопе Carl Zeiss Axio Imager M2

+

30 000.00 
Анализ пористости материалов, получение распределения пор по размерам, определение газовой и жидкостной проницаемости на порометре капиллярных потоков iPore...
+

9 000.00 
Развёрнутый  физико-химический и радиологический анализ почвы по 17 показателям учитывающий нормы СанПиН 2.1.7.1287-03 «Санитарно-эпидемиологические...
+

12 000.00 
Развёрнутый  физико-химический и радиологический анализ почвы по 17 показателям учитывающий нормы СанПиН 2.1.7.1287-03 «Санитарно-эпидемиологические...
+


2 600.00 

Эллипсометр Uvisel позволяет проводить анализ, исследования, тестирования свойств тонких пленок, проводить моделирование широкого круга образцов: анализировать многослойные, анизотропные, градиентные структуры, определять композиционный состав пленок, пористость и шероховатость. В базу данных DeltaPsi2 входит более 100 материалов и более 30 дисперсионных формул, а также алгоритмы анализа композиционных материалов. Все это позволяет исследовать образцы различной природы: полупроводники, диэлектрики и металлы, например, такие, как полимерные пленки, просветляющие покрытия, солнечные батареи, оптоэлектронные устройства и другие. Диапазон длин волн 190-2100 нм; угол падения от 35 до 90°; точность определения показателя преломления n~0,002

+



12 000.00 
Наблюдение и измерение топографии поверхности различных образцов в микронном масштабе. Позволяет получать 3D изображение поверхности образца, при диапазоне...
+


1 650.00 

Разрешение по вертикали 0.5 нм; длина получаемого изображения 55 мм; диапазон перемещения по вертикали до 1.2 мм; предметный столик (диаметр 200 мм) с сервоприводами для установки образца; диапазон перемещения предметного столика 150х178 мм

+

5 500.00 

Возможные тесты на приборе

  • Качественный и количественный фазовый анализ слоев в тонкопленочных структурах и дисперсных системах. 
  • Определение межплоскостных расстояний в кристаллических пленках в диапазоне линейных размеров от 0,004 до 10,000 нм. 
  • Определяемая массовая доля отдельной фазы 0,1-100,0%;
  • Определение микро- и макронапряжений в тонкопленочных структурах. 
  • Модуль определяемых трехосных напряжений 0-400,0 МПа. 
  • Определение профиля деформации в многослойных тонкопленочных структурах с пространственным разрешением 10 нм;
  • Определение преимущественной ориентации кристаллитов в тонких пленках в многослойных структурах.
+

5 000.00 

Аналитическое исследование на синхронном термическом анализаторе STA 449 F3 (TGA/DSC)

+

16 000.00 
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe оснащен двумя колонами электронной Elstar с высокоточной технологией UC+ для...
+


9 000.00 

Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час

+

5 000.00 
Микроскоп ZEISS Axioscope  – микроскоп для повседневных биологических и медицинских исследований. Легкая работа с различными методами контрастирования...
+



18 000.00 
Описание лабораторного исследования: Выполнение лабораторного анализа определения концентрации ртути в жидкой пробе (комплект из 5 образцов)...
+

19 000.00 
Описание лабораторного исследования: Выполнение лабораторного анализа определения концентрации ртути в жидкой пробе (комплект из 5 образцов)...
+

45 000.00 

Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+

45 000.00 

Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+

32 000.00 

Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+

32 000.00 

Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)

+







4 000.00 
Геометрические измерения в X Y Z плоскости с точностью до 1 мкм на видеоизмерительной машине
+

5 000.00 

Система гель-документирования Gel Doc XR+ создана на базе CCD камеры высокого разрешения и чувствительности, и позволяет решать основные задачи анализа и документирования гелей и мембран. Gel Doc XR+ подходит для работы с широким спектром образцов, от полиакриламидных и агарозных гелей до блотов, и позволяет использовать такие методы детекции, как денситометрия, флуоресценция и колориметрия. Полная автоматизация всех процессов и программное обеспечение Image Lab позволяют быстро получать точные и воспроизводимые результаты.

+

12 000.00 

Идентификация возбудителей внутрибольничных инфекций в лечебных учреждениях с оценкой чувствительности к антибактериальным препаратам. В ходе работ производится выделение чистой культуры, бактериологическая идентификация возбудителя, оценка антибиотикочувствительности, депонирование штаммов. Секвенирования геномов бактерий и экспресс диагностика (ПЦР- детекция) осуществляется согласно техническому заданию.

+








5 000.00 

Измерение мутности суспензий , определение концентрации клеток , измерение мутности клеточных суспензий на Денситометре DEN-1B Bio-San

+




2 600.00 

Измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также для химического анализа поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution

+

2 200.00 

Измерение спектров поглощения в ультрафиолетовом, видимом и инфракрасном диапазонах на спектрофлуориметре FluoroMax 4 HORIBA

+






6 000.00 

Фурье-спектрометр инфракрасный VERTEX 70 предназначен для измерения оптических спектров пропускания, отражения в дальнем, среднем, ближнем ИК диапазонах, а также в видимой и ультрафиолетовой областях электромагнитного спектра, определения концентрации различных веществ в твердой, жидкой и газообразной фазах исследуемых образцов.


+

20 000.00 

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором  IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

+

8 000.00 

Аналитическое исследование тестирование материалов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis 200 c корректором сферической аберрации в режиме изображений и высокоскоростным энергодисперсионным рентгеновским микроанализатором. 

Прибор используется для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.

+

6 500.00 

STA 409PC, STA 429CD, STA 449C, TG 209C используются для выполнения измерений термодинамических характеристик (температура и энтальпия фазовых переходов, теплоемкость) твердых и порошкообразных образцов, для контроля качества в фармакологии, строительстве, в производстве биосинтетических препаратов, а также исследования в химии, физике, материаловедении, металлургии, биологии. Диапазоны измерения: температуры, °С от -160 до 2400 от -1270 до 1650 от 20 до 1000 от 20 до 1600 энтальпии от 1 до 100 кДж/кг теплоемкости от 100 до 3000 Дж/кг*К. Погрешности T1,5,5 % T3% T3%.

+

99 000.00 

Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+


60 000.00 

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+

20 000.00 

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен

+


30 000.00 

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

+



5 000.00 

Поляриметр 341 модели производства фирмы ПеркинЭлмер (США) - универсальный прибор с поляризатором Глена-Тейлора и двумя лампами – Na и Hg, который предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации оптически активными прозрачными и однородными растворами и жидкостями.

+

112 000.00 

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

+

20 000.00 

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER

+

8 200.00 

Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI

+

4 000.00 

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

+

14 000.00 

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

+







72 000.00 

Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)

+


3 000.00 

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

+

2 400.00 

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

+

5 000.00 

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

+