Аренда оборудования

Аренда научного оборудования, аренда измерительного оборудования, аренда обрабатывающего оборудования, аренда пробоподготовительного оборудования, аренда медицинского оборудования, аренда химического оборудования, аренда переносного оборудования, аренда геофизического оборудования и другое

16 000.00 

Микроскоп двухлучевой электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.

+