Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Рентгеноструктурные анализы и тесты

Измерения параметров кристаллической решетки, качественного и количественного фазового состава кристаллических и поликристаллических тонких пленок, дисперсных систем и структур на их основе

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Аналитическое исследование на качественный и количественный фазовый и структурный анализ порошков, тонких пленок, дисперсных систем
5 500.00 ₽

Возможные тесты на приборе

  • Качественный и количественный фазовый анализ слоев в тонкопленочных структурах и дисперсных системах. 
  • Определение межплоскостных расстояний в кристаллических пленках в диапазоне линейных размеров от 0,004 до 10,000 нм. 
  • Определяемая массовая доля отдельной фазы 0,1-100,0%;
  • Определение микро- и макронапряжений в тонкопленочных структурах. 
  • Модуль определяемых трехосных напряжений 0-400,0 МПа. 
  • Определение профиля деформации в многослойных тонкопленочных структурах с пространственным разрешением 10 нм;
  • Определение преимущественной ориентации кристаллитов в тонких пленках в многослойных структурах.
+ −
Купить в один клик