Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Рентгеноструктурные анализы и тесты

Измерения параметров кристаллической решетки, качественного и количественного фазового состава кристаллических и поликристаллических тонких пленок, дисперсных систем и структур на их основе

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Идентификация образца методом рентгеновской дифрактометрии
11 000.00 ₽

идентификация образца методом рентгеновской дифрактометрии

+ −
Купить в один клик
Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
20 000.00 ₽

Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа

+ −
Купить в один клик
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
11 000.00 ₽

Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии

+ −
Купить в один клик
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
15 000.00 ₽

Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ

+ −
Купить в один клик