Москва

Магазины

ЦКП АСМВВМО "АНАЛИЗ, СЕРТИФИКАЦИЯ, МОНИТОРИНГ ВЫСОКОЧИСТЫХ ВЕЩЕСТВ И МАТЕРИАЛОВ НА ИХ ОСНОВЕ"
ЦКП АСМВВМО "АНАЛИЗ, СЕРТИФИКАЦИЯ, МОНИТОРИНГ ВЫСОКОЧИСТЫХ ВЕЩЕСТВ И МАТЕРИАЛОВ НА ИХ ОСНОВЕ"

Краткое описание ЦКП:

Основные направления деятельности ЦКП- анализ, сертификация, мониторинг высокочистых веществ и материалов на их основе

Направления научных исследований, проводимых в ЦКП:


  • исследование свойств высокочистых изотопно-обогащенных элементов;
  • исследование электрофизических свойств полупроводников, в том числе эпитаксиальных слоев при комнатной и азотной температурах: (измерение электросопротивления четырехзондовым методом, исследование зависимости электросопротивления от магнитного поля, измерение концентрации и подвижности основных носителей заряда);
  • исследование свойств волоконных световодов на основе высокочистого кварцевого стекла;
  • исследование влияния баротермического воздействия на структуру, механические, оптические и электрофизические свойства кристаллических, стеклообразных и стеклокерамических материалов;
  • масс-спектрометрическое, ИК-спектроскопическое и рентгеноспектральное изучение примесного состава высокочистых веществ и материалов, в том числе обогащенных стабильных изотопов;
  • установление макросостава оксидных и неоксидных стекол, оптической керамики;
  • определения изотопного состава изотопно-обогащенных веществ с низкими пределами обнаружения «примесных» изотопов;
  • исследование оптических свойств высокочистых обогащенных изотопов кремния, германия, серы и селена в виде поли-‚ монокристаллов и стекол на их основе;
  • исследование молекулярного примесного состава высокочистых летучих веществ с естественным и изотопно-обогащенным составом;
  • определение микро- и наноразмерных гетерофазных включений в высокочистых стеклообразных и поликристаллических средах;
  • анализ и установление закономерностей формирования примесного состава особо чистых веществ различных химических классов;
  • исследование фазовых переходов в высокочистых стеклах;
  • развитие системы мониторинга уровня чистоты высокочистых веществ и материалов;
  • разработка методик прогнозирования полного примесного состава по неполным данным анализа для различных классов высокочистых веществ;
  • изучение мировых тенденций повышения уровня чистоты высокочистых веществ и материалов;
  • составление полной и достоверной картины о современной чистоте химических элементов и ключевых материалов, с оказанием соответствующих информационных услуг заинтересованным отечественным и зарубежным пользователям.
Отрасль

Категории продавца

Микроскопические тесты и исследованияНайдено товаров: 3

Задать вопрос

Оптическая микроскопия, атомно-силовая микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, просвечивающая электронная микроскопия, лазерные микроскопические конфокальные исследования, акустическая микроскопия, металлографический анализ

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Анализ поверхности материалов и образцов методами оптической микроскопии на прямом микроскопе Carl Zeiss Axio Imager M2
4 000.00 ₽

Анализ поверхности материалов и образцов методами оптической микроскопии на прямом микроскопе Carl Zeiss Axio Imager M2

+ −
Купить в один клик
Исследование поверхности методами оптической микроскопии на универсальном микроскопе отраженного света Carl Zeiss Axioplan 2
2 000.00 ₽

Микроскопы проходящего и отраженного света, они реализовывают все методы исследования и контрастирования, присущие этим способам освещения. Темное поле в отраженном свете с помощью эпи-объективов высокого класса и специальных конструкций гарантируют высокое качество и контраст в отраженном свете. Устойчивый штатив не выглядит массивным. В данном случае конструкция в виде "пирамиды" позволяет разместить элементы механического и электронного управления микроскопами компактно.

+ −
Купить в один клик
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
9 800.00 ₽
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philipls SEM515
+ −
Купить в один клик