Диспергирование, гомогенизация, перемешивание, смешение в потоке, эмульгирование на диспергаторе MagicLab
Идентификация белков методом масс-спектрометрии МАЛДИ с использованием баз данных Mascott с помощью времяпролетного масс-спектрометра AXIMA-RESONANCE (5 комплектов образцов)
Идентификация возбудителей внутрибольничных инфекций в лечебных учреждениях с оценкой чувствительности к антибактериальным препаратам. В ходе работ производится выделение чистой культуры, бактериологическая идентификация возбудителя, оценка антибиотикочувствительности, депонирование штаммов. Секвенирования геномов бактерий и экспресс диагностика (ПЦР- детекция) осуществляется согласно техническому заданию.
Идентификация микроорганизмов методом масс-спектрометрии с матрично-активированной лазерной десорбцией/ ионизацией (MALDI) с использованием базы данных SARAMIS (5 комплектов образцов)
идентификация образца методом рентгеновской дифрактометрии
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Изготовление листа, ленты шириной до 200мм, толщиной до 1,8 мм
Изготовление пленки 1,3-х слойная от 30 до 250мкм
Измерение pH
Измрение pH и ОВП pH-метром Edge HI 2002-02
Измерение влажности термогравиметрическим анализатором
Измерение времени жизни электронно-возбужденных состояний молекул методом флуоресцентной спектроскопии с времякоррелированным счетом единичных фотонов с помощью спектрофлуориметра Fluorolog-3
Измерение времени и температуры окислительной индукции
Измерение газопроницаемости
Измерение динамической вязкости
Измерение зольности, сажи в полиолефинах и пластмассах
Измерение индекса растворимости азота NSI на установке для разложения по методу Къельдаля Turbotherm
Измерение кислородного индекса, определение индекса максимального содержания кислорода
Измерение коэффициента преломления на рефрактометре
Измерение летучих веществ в полиолефинах, полиэтиленах и пластмассах
Измерение массовой доли влаги, анализ влажности
Измерение массовой концентрации фосфат-ионов в питьевых, поверхностных и сточных водах фотометрическим методом с молибдатом аммония ПНД Ф 14.1:2:4.112-97
Измерение молекулярной массы полимеров методом гель-проникающей хроматографии
Измерение мутности суспензий , определение концентрации клеток , измерение мутности клеточных суспензий на Денситометре DEN-1B Bio-San
Измерение плотности геометрическим обмером
Измерение показателя текучести расплава термопластов, анализ исследование пластмасс
Измерение прочности, исследование твердости древесины на испытательной машине
Измерение размера наночастиц; измерение дзета-потенциала коллоидов и наночастиц, измерение абсолютной молекулярной массы макромолекул на Zetasizer Nano ZS
Измерения свойств мясо-растительных консерв, анализ сосисок на массовую долю крахмала, поваренной соли, нитритов, жира, белка
Измерение спектров поглощения в ультрафиолетовом, видимом и инфракрасном диапазонах на спектрофлуориметре FluoroMax 4 HORIBA
Измерение твердости пластмасс и полимеров по ШОРУ А, ШОРУ Д
Измерение температуры размягчения битумов, адгезивов по методу "Кольцо -Шар"
Измерение температуры размягчения пластмасс, термопластов по ВИКА
Измерение температуры стеклования пластмасс по ГОСТ Р 56753
Измерение толщины полимерного покрытия на металлической подложке
Измерение ударной прочности и анализ вязкости пластмасс и полимеров по Шарпи
Измерение удельного и объемного электросопротивления электроизоляционных материалов
Фурье-спектрометр инфракрасный VERTEX 70 предназначен для измерения оптических спектров пропускания, отражения в дальнем, среднем, ближнем ИК диапазонах, а также в видимой и ультрафиолетовой областях электромагнитного спектра, определения концентрации различных веществ в твердой, жидкой и газообразной фазах исследуемых образцов.
Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.
Аналитическое исследование тестирование материалов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis 200 c корректором сферической аберрации в режиме изображений и высокоскоростным энергодисперсионным рентгеновским микроанализатором.
Прибор используется для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.
Измерения свойств консерв мясных, анализ паштета и фарша на массовую долю крахмала, поваренной соли, нитратов, жира, белка
STA 409PC, STA 429CD, STA 449C, TG 209C используются для выполнения измерений термодинамических характеристик (температура и энтальпия фазовых переходов, теплоемкость) твердых и порошкообразных образцов, для контроля качества в фармакологии, строительстве, в производстве биосинтетических препаратов, а также исследования в химии, физике, материаловедении, металлургии, биологии. Диапазоны измерения: температуры, °С от -160 до 2400 от -1270 до 1650 от 20 до 1000 от 20 до 1600 энтальпии от 1 до 100 кДж/кг теплоемкости от 100 до 3000 Дж/кг*К. Погрешности T1,5,5 % T3% T3%.
Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z