Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Биологическая визуализация и измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также химический анализ поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра, ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной абсорбционной спектроскопии (за элемент)
Измерение массовой доли влаги, анализ влажности
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
Центрифугирование
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Количественный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания
Пробоподготовка методом лиофильного высушивания
Получение 'Н ЯМР-спектра образца
Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (за одно соединение)
Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе
Исследование морфологии поверхности на сканирующем электронном микроскопе
Анализ распределения частиц по размеру в диапазоне 0,1 - 1000 мкм, диспергированных в воде или органическом растворителе
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
идентификация образца методом рентгеновской дифрактометрии
Количественный анализ твердых образцов рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
Диспергирование, гомогенизация, перемешивание, смешение в потоке, эмульгирование на диспергаторе MagicLab
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)
Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS