Качественный анализ образцов методом высокоэффективной жидкостной хроматографии с МАЛДИ масс-спектрометрическим детектированием с помощью времяпролетного масс-спектрометра AXIMA-RESONANCE с системой ACCUSPOT и хроматографом LC-30 фирмы Шимадзу в комплекте (5 комплектов образцов)
Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
Количественный анализ образца методом жидкостной гибридной хромато-масс-спектрометрии высокого разрешения с помощью времяпролётного масс-спектрометра Triple TOF 5600 (5 комплектов образцов)
Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Количественный анализ полициклических ароматических углеводородов в почвах методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (5 комплектов образцов)
Количественный анализ полициклических ароматических углеводородов в воде и воздухе методом высокоэффективной жидкостной хроматографии
(5 комплектов образцов)
Идентификация белков методом масс-спектрометрии МАЛДИ с использованием баз данных Mascott с помощью времяпролетного масс-спектрометра AXIMA-RESONANCE (5 комплектов образцов)
Качественный анализ образцов методом масс-спектрометрии МАЛДИ с помощью времяпролетного масс-спектрометра AXIMA-RESONANCE (5 комплектов образцов)
Анализ и исследование стойкости пластмассы, полиэтилена к растрескиванию в течение 1000 часов
Количественный анализ органических соединений методом тандемной газовой хромато-масс-спектрометрии (комплект 5 образцов)
Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
Анализ аминокислотного состава гидролизатов методом высокоэффективной жидкостной хроматографии с помощью аминокислотного анализатора Biochrom 30+ (5 комплектов образцов)
Идентификация микроорганизмов методом масс-спектрометрии с матрично-активированной лазерной десорбцией/ ионизацией (MALDI) с использованием базы данных SARAMIS (5 комплектов образцов)
Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС
Определение элементного состава с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии с картированием по 3 областям на ПЭМ микроскопе Titan Themis Z
Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)
Выполнение спектрального анализа Al, Ba, Bi, Cr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа K, Li, Na, Sr элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа Cd, Co , Cu, Fe, Mn, Ni, Pb, Zn элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Количественный анализ образца методом жидкостной гибридной хромато-масс-спектрометрии (5 комплектов образцов)
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
Определение молекулярно-массового распределения полимеров методом эксклюзионной хроматографии с детектированием MALLS (5 комплектов образцов)
Количественный анализ образца методом жидкостной тандемной хромато-масс-спектрометрии (5 комплектов образцов)
Определение моносахаридного состава в твердых образцах (5 комплектов образцов)
Измерение молекулярной массы полимеров методом гель-проникающей хроматографии
Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре
Выполнение спектрального анализа Ca, Mg элементов в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в твердых пробах на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа элементов Ba, Ca, Fe, Li, Mg, Sr в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Количественный анализ образца методом жидкостной хромато-масс-спектрометрии (5 комплектов образцов)
Количественный анализ органических соединений методам газовой хроматографии (5 комплектов образцов)
Количественный анализ органических соединений методом сверхкритической флюидной хроматографии с помощью СКФ ультрапроизводительной хроматографической системы Acquity UPS2 с термостатом для 6 колонок с комплектующими и опциями (комплект 5 образцов)
Определение теплоты растворения образца методами полуадиабатической калориметрии растворения
Определения теплоты химических реакций методом изотермической калориметрии
Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии с электрохимическим детектированием с помощью хроматографического комплекса на базе жидкостного хроматографа LC-20
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Измерение времени жизни электронно-возбужденных состояний молекул методом флуоресцентной спектроскопии с времякоррелированным счетом единичных фотонов с помощью спектрофлуориметра Fluorolog-3
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Выполнение спектрального анализа элементов K, Na в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Выполнение спектрального анализа элементов Ga, In, Tl в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
спектральный анализ, ИК анализ, анализ газообразных продуктов, термическое разложение, анализ термического разложения
Исследование твердого образца методом пиролитической газовой хромато-масс спектрометрии
Количественное определение хлора в образцах с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)
Определение катионного состава образца методом ионной хроматографии (5 комплектов образцов)
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
Выполнение спектрального анализа одного элемента на выбор в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа
Регистрация 13С ЯМР-спектра твердого образца
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)
Определение анионного состава образца методом ионной хроматографии (5 комплектов образцов)
Определение катионного состава раствора методом капиллярного электрофореза системы капиллярного электрофореза Agilent 7100 (5 комплектов)
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии со спектрофотометрическим и рефрактометрическим детектированием (5 комплектов обрацов)
Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом. (TIMS-TOF-PRO, Ultimate 3000nano UPLC)
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
Определение квантового выхода люминесценции жидкого образца
Определение квантового выхода люминесценции твердого образца
Количественный анализ состава образца методом газовой хромато-масс-спектрометрии высокого разрешения с использованием библиотек масс-спектров
Сверхкритические флюидные технологии: Проведение сверхкритической флюидной экстракции образца
Определение теплоемкости образца в зависимости от температуры методом дифференциальной сканирующей калориметрии
Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.
Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды
Технические характеристики:Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;Полный автоматический контроль.
Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен
Тестирование хрупкости пластмассы ударом при низкой температуре
Термоциклирование от -60 до +90С в течение суток
тестирование истираемости, истираемость по Таберу, испытание на истираемость
Тестирование на стойкость к горению, испытания материалов на воспламеняемость
Измерение кислородного индекса, определение индекса максимального содержания кислорода
Измерение газопроницаемости
Измерение температуры стеклования пластмасс по ГОСТ Р 56753
Измерение температуры размягчения пластмасс, термопластов по ВИКА
Определение коэффициента линейного теплового расширения пластмасс посредством термомеханического анализа
Исследование пластмассы измерение модуля упругости, модуля потерь, тангенса угла потерь при нагревании