Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Элементный анализ жидких проб (CNS) с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)
Элементный CHNS анализ твердых проб (5 комплектов образцов)
Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument
Рентгенофлуоресцентный метод спектрального анализа основан на сборе и анализе спектра, полученного после возбуждения характеристического рентгеновского излучения, которое возникает при переходе атома из возбуждённого в основное состояние. Атомы разных элементов испускают фотоны со строго определёнными энергиями, измерив которые можно определить качественный элементный состав. Для измерения количества элемента регистрируется интенсивность излучения с определённой энергией.
Аналитический метод анализа: Энергодисперсионный рентгеновской флуоресцентный
Измеряемые элементы, диапазон атомного номера от 12 до 92 [элементы от магния (Mg) до урана (U)] могут быть измерены
Одновременный анализ: до 40 элементов
Микрокомпьютер: настроенная система; CPU: 1G; Системная память: 1G; Расширение до 32G; Стандарт 4G
Аналитический диапазон: 1 ppm ~ 99,99>#/p###
Время анализа: 1 ~ 60 секунд
Встроенная система: GPS, WiFi, Bluetooth
Источник Питания: Аккумуляторная литиевая батарея, стандарт 9000mAh, устойчивое время работы до 12 часов; опционально 27000mAh superbattery с широким напряжением 110V ~ 220V, универсальный адаптер для подзарядки питания
Анализируемые материалы: твердые, жидкие вещества, порошки
Детектор: Кремниевый SDD или Fast-SDD детектор (опционально)
Минимальное разрешение детектора может достигать 128eV
Источник возбуждения: интегрированная миниатюрная серебрянная рентгеновская лучевая трубка 50кВ / 200uA и высоковольтный источник питания
Коллиматоры и фильтры: диаметры коллиматорв 4,0 мм и 2,0 мм, 6 видов фильтров с автоматическим переключением
Видеосистема: 5mpx пикселей камера высокого разрешения
Экран дисплея: Новый 5-дюймовый сенсорный экран трансфлективный ЖК-дисплей, разрешение 1080 x 720
Предел обнаружения: минимальные пределы обнаружения 1 ~ 500 ppm
Диапазон рабочих температур: от -20 до +50°C.
Габариты и вес:
Размеры инструмента 244мм (длина) x 90 мм (ширина) x 300 мм (высота)
Вес : 1,7 кг
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Проведение спектрального элементного анализа жидкой пробы на атомно-абсорбционном спектрометре со сжиганием в печи (комплект из 5 образцов)
Проведение полного элементного анализа и измерение концентраций химических элементов на рентгенофлуоресцентном спектрометре ARL OPTIM’X
Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600
Для идентификации веществ на основе оптических спектров в инфракрасной области, количественного химического анализа органических и неорганических веществ, применяются в пищевой, фармацевтической, биохимической, химической отраслях промышленности в здравоохранении, аналитическом контроле, научных исследованиях.
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
Лабораторное тестирование токсичных элементов в пищевой продукции и продовольственном сырье
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.
Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.
Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных, отраженных электронов и в режиме «напросвет».
Основные технические характеристики
Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ 1нм
Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ1,5 нм
Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВне более 10 нм.
Диапазон регулировки увеличения30¸800000 крат.
Диапазон измерения линейных размеров0,02¸10000 мкм
Погрешность измерений линейных размеров не более5 %.
Диапазон регулировки ускоряющего напряжения0,1¸30 кВ
Производитель:Hitachi, Япония
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
Количественный CHNS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
Качественные анализы и количественные измерения химического и элементного состава органических и неорганических веществ на хромато-масс-спектрометре GCMS-QP2010 Ultra
Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
Определение примесного состава высокочистых веществ и материалов методами атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой на приборе Thermo iCAP 6300 Duo
Исследование элементного анализа концентраций матричного состава посредством атомно-эмиссионного микроскопа Carl Zeiss AAS-3
В спектрофотометре используется метод атомно-абсорбционного спектрального анализа с использованием пламенной атомизации. Для анализа используется тип пламени «ацетилен - воздух». Принцип действия спектрофотометра основан на спектрально - селективном поглощении излучения атомов определяемого элемента, находящегося в свободном состоянии (атомный пар). Поглощательная способность атомного пара находится в прямой зависимости от концентрации химического элемента, поступающего в систему атомизации.
Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR
Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен
Выполнение спектрального анализа элементов Al, В, Вi, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Zn в жидкой пробе на атомно-эмиссионном спектрометре ICPE-9000 (комплект 10 образцов)
Анализ воды из колодца по 16 показателям: ph, мутность, перманганатная окисляемость, сухой остаток, УЭП, цветность и др.