Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств
Получение 'Н ЯМР-спектра образца
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1