41283 ФР.1.27.2009.06308 Методика рентгеноспектрального локального микроанализа элементного состава структурных составляющих материалов (растровый двулучевой электронно-ионный микроскоп Quanta 200 3D FEG, оснащенный рентгеновским энергодисперсионным спек

Аттестующая организация

НазваниеЗначение
Наименование аттестующей организацииФГУП "ВНИИМС"
Номер аттестата аккредитации№ 01.00225-2011
Адрес аттестующей организации119361, г. Москва, Озерная, 46
Телефон аттестующей организации437-55-77, факс:437-55-56
E-mail аттестующей организацииoffice@vniims.ru

Сведения о разработчике МВИ

НазваниеЗначение
Разработчик МВИФГУП 'ЦНИИ КМ 'Прометей'
Наименование разработчика МВИФГУП 'ЦНИИ КМ 'Прометей'
Адрес разработчика МВИ191015, г. Санкт-Петербург, ул. Шпалерная, д.49

Сведения об аттестованной методике (методе) измерений

НазваниеЗначение
Номер в реестреФР.1.27.2009.06308
Раздел реестраВне сферы обороны
Вид методикиМетодика (метод) измерений
Назначение методикиЛокальный анализ элементного химического состава наноматериалов
Наименование документа на методикуМетодика рентгеноспектрального локального микроанализа элементного состава структурных составляющих материалов (растровый двулучевой электронно-ионный микроскоп Quanta 200 3D FEG, оснащенный рентгеновским энергодисперсионным спектрометром EDAX Apollo)
№ свидетельства об аттестации06-206-09
Дата свидетельства об аттестации31.08.2009
Вид измеренийГеометрические измерения
Метод измеренийЭлектронная микроскопия в сочетании с рентгеновской спектроскопией
Измеряемая величинаВесовая концентрация элементов
Пределы измеренийПри локальности анализа не хуже 1 мкм измеряются концентрации не менее 0,5>#/td###
Характеристика погрешностиВ зависимости от концентрации и атомной массы элемента стандартная неопределенность измерения его концентрации от 0,1% до 2,7>#/td###
СтатусДействует

Вложения

НазваниеЗначение

Общие сведения

НазваниеЗначение
Номер записи41283
Дата опубликования18.04.2018