Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV

На колонну микроскопа можно одновременно монтировать от одного до трёх дополнительных спектрометров. Энерго-дисперсионный спектрометр (EDS), волновой спектрометр (WDS), детектор картин дифракции отражённых электронов (EBSD). С помощью этих аналитических приставок вы сможете получать информацию не только о морфологии поверхности, но и о составе образца на субмикронном уровне, получать картины распределения элементов по выбранной площади образца, вдоль линии, а также кристаллографическую информацию от микрозёрен. Важно, что спектрометры работают в единой программе.

• Многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики.
• Камера и столик для изучения больших образцов (до 200мм диаметром)
• Интуитивно понятный интерфейс. Графические иконки содержат надписи, раскрывающие их функциональное назначение. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки.
• Многопользовательская система.
• Дополнительная установка спектрометров расширяет возможности микроскопа до аналитических.
• С помощью новой системы сканирования с большим полем зрения, можно работать на очень малых увеличениях около х8. Минимальное увеличение х5 дает возможность изучать большие образцы, при таком увеличении рабочая площадь на образце составляет 2 см. Такая система особенно удобна для работы в сочетании с автоматической навигацией столика образца.
• Такие автоматические функции, как Автофокусировка, Автостигмирование и Автоматическая установка контраста и яркости, сделают Вашу работу с микроскопом легкой и удобной. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения в процессе наблюдения или анализа не требуется проведения каких-либо настроек.
• Операции по управлению электронной оптикой просты и эффективны.
• Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным, что избавляет оператора от потерь времени на дополнительную юстировку.
• Низковакуумная модель РЭМ JSM-6490LV имеет, в дополнение к обычному высоковауумному, низковакуумный режим работы. В таком режиме можно изучать непроводящие образцы без всякого препарирования, а затем проанализировать их с помощью энергодисперсионного спектрометра. В режиме низкого вакуума можно также работать с образцами, обладающими сильным газовыделением. Используя запатентованный фирмой JEOL метод сушки замораживанием, можно также изучать влажные образцы.
• Фирма JEOL разработала и запатентовала полупроводниковый детектор отраженных электронов с высокой чувствительностью, который дает возможность наблюдать образцы, используя три вида контраста: композиционный, топографический и теневой.
• Эвцентрический столик образца имеет минимальный сдвиг поля зрения, а также фокуса при вращении образца. Держатель предназначен для наблюдения особенностей поверхности, в том числе, под разными углами. Вы можете наблюдать третье измерение - глубину образца, путём получения серий стереоизображений. Качество стереоизображений напрямую зависит от того, насколько точно сохраняется исходное положение образца при его вращении и наклоне.

Технические параметры