HORIBA

Эллипсометр Uvisel позволяет проводить анализ, исследования, тестирования свойств тонких пленок, проводить моделирование широкого круга образцов: анализировать многослойные, анизотропные, градиентные структуры, определять композиционный состав пленок, пористость и шероховатость. В базу данных DeltaPsi2 входит более 100 материалов и более 30 дисперсионных формул, а также алгоритмы анализа композиционных материалов. Все это позволяет исследовать образцы различной природы: полупроводники, диэлектрики и металлы, например, такие, как полимерные пленки, просветляющие покрытия, солнечные батареи, оптоэлектронные устройства и другие. Диапазон длин волн 190-2100 нм; угол падения от 35 до 90°; точность определения показателя преломления n~0,002

Биологическая визуализация и измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также химический анализ поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution

Измерение времени жизни электронно-возбужденных состояний молекул методом флуоресцентной спектроскопии с времякоррелированным счетом единичных фотонов с помощью спектрофлуориметра Fluorolog-3

Измерение спектров поглощения в ультрафиолетовом, видимом и инфракрасном диапазонах на спектрофлуориметре FluoroMax 4 HORIBA

Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии

Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии

Исследования и анализ спектров люминесценции, измерение времен жизни возбужденных состояний молекул, исследование молекулярной динамики на Спектрофлуориметре Fluorolog-3 HORIBA

Определение размеров частиц в растворе методом лазерного светорассеяния с помощью анализатора частиц субмикронного диапазона и определения дзета-потенциала

Определение квантового выхода люминесценции жидкого образца

Определение квантового выхода люминесценции твердого образца

Определение размеров частиц в растворе методом лазерного светорассеяния с помощью анализатора частиц субмикронного диапазона и определения дзета-потенциала

Эллипсометр Auto SE объединяет максимальную эффективность анализа тонких пленок и простоту работы на приборе. Позволяет проводить исследования в полностью автоматическом режиме, путем нажатия одной кнопки. Измерение образца занимает всего несколько секунд, и результирующий отчет полностью описывает тонкопленочную структуру – толщины слоев, оптические константы, шероховатость поверхности и неоднородность слоев.