Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Научные исследования

Научные исследования

Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
24 000.00 ₽
Просмотр
Анализ распределения частиц по размеру в диапазоне 0,1 - 1000 мкм, диспергированных в воде или органическом растворителе
9 000.00 ₽
Просмотр
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
16 000.00 ₽
Просмотр
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
20 000.00 ₽
Просмотр
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
9 000.00 ₽
Просмотр
Биологическая визуализация и измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также химический анализ поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
2 600.00 ₽
Просмотр
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
130 000.00 ₽
Просмотр
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
222 000.00 ₽
Просмотр
Диспергирование, гомогенизация, перемешивание, смешение в потоке,​ эмульгирование на диспергаторе MagicLab
12 000.00 ₽
Просмотр
Идентификация образца методом рентгеновской дифрактометрии
11 000.00 ₽
Просмотр
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
32 000.00 ₽
Просмотр
Измерение массовой доли влаги, анализ влажности
4 000.00 ₽
Просмотр
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
20 000.00 ₽
Просмотр
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Свяжитесь с нами насчёт цены
Просмотр
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
60 000.00 ₽
Просмотр
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
60 000.00 ₽
Просмотр
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00 ₽
Просмотр
Исследование и анализ ИК спектра твердого образца в таблетке КВг в диапазоне 3000 - 600 см'1
3 000.00 ₽
Просмотр
Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе
9 000.00 ₽
Просмотр
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00 ₽
Просмотр
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
5 500.00 ₽
Просмотр
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде
14 200.00 ₽
Просмотр
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
3 500.00 ₽
Просмотр
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
3 000.00 ₽
Просмотр
Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
5 000.00 ₽
Просмотр
Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
9 800.00 ₽
Просмотр
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа
27 000.00 ₽
Просмотр
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения
32 000.00 ₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00 ₽
Просмотр
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00 ₽
Просмотр
Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии
9 000.00 ₽
Просмотр
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
6 000.00 ₽
Просмотр
Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS
9 000.00 ₽
Просмотр
Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)
12 000.00 ₽
Просмотр
Количественное определение галогенов в органических соединениях
20 000.00 ₽
Просмотр
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной абсорбционной спектроскопии (за элемент)
3 900.00 ₽
Просмотр
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)
12 000.00 ₽
Просмотр
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
19 000.00 ₽
Просмотр
Количественный анализ жидких образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением
11 600.00 ₽
Просмотр
Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (за одно соединение)
9 000.00 ₽
Просмотр
Количественный анализ органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии (за одно соединение)
9 000.00 ₽
Просмотр
Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)
9 000.00 ₽
Просмотр
Количественный анализ твердых образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением
12 000.00 ₽
Просмотр
Количественный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
6 000.00 ₽
Просмотр
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
24 000.00 ₽
Просмотр
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS
12 000.00 ₽
Просмотр
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
29 600.00 ₽
Просмотр
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
24 000.00 ₽
Просмотр
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00 ₽
Просмотр
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
5 200.00 ₽
Просмотр
 Назад
1 2
Вперед