English
Русский
English
(£)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
О проекте
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Сотрудничество
Контакты
Москва
Мой профиль
Orders
Comparison list
Wish list
Track my order(s)
Track my order(s)
Sign in
Register
E-mail
Password
Forgot your password?
Register for a new account
Sign in
Remember me
Поиск
+7(495)
661-61-09
Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call
Cart is empty
Cart is empty
View cart
Checkout
Menu
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
View more
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуориметрия
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
123456
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмассы
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Скидки
Home
/
Научные исследования
Научные исследования
Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств
Sort by Price: High to Low
Newest Items First
Sort Alphabetically: A to Z
Sort Alphabetically: Z to A
Sort by Price: Low to High
Sort by Popularity
50 Per Page
12 Per Page
24 Per Page
48 Per Page
96 Per Page
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
£
2,196.40
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
£
1,978.73
Quick view
Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
£
1,286.18
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
£
791.49
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
£
672.77
Quick view
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
£
613.41
Quick view
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
£
593.62
Quick view
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
£
593.62
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
£
474.90
Quick view
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой [CLONE]
£
351.23
Quick view
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
£
341.33
Quick view
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
£
336.38
Quick view
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
£
316.60
Quick view
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа [CLONE]
£
316.60
Quick view
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
£
296.81
Quick view
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
£
292.85
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE] [CLONE]
£
267.13
Quick view
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа
£
267.13
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE]
£
257.24
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE] [CLONE]
£
257.24
Quick view
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
£
237.45
Quick view
Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
£
237.45
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
£
237.45
Quick view
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
£
237.45
Quick view
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии [CLONE]
£
237.45
Quick view
Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500
£
197.87
Quick view
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
£
197.87
Quick view
Количественное определение галогенов в органических соединениях
£
197.87
Quick view
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе [CLONE]
£
197.87
Quick view
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ [CLONE]
£
197.87
Quick view
Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений
£
187.98
Quick view
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
£
178.09
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE]
£
178.09
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE] [CLONE] [CLONE]
£
178.09
Quick view
Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
£
178.09
Quick view
Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
£
158.30
Quick view
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии [CLONE]
£
157.80
Quick view
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
£
148.41
Quick view
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде [CLONE]
£
140.49
Quick view
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
£
138.51
Quick view
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
£
138.51
Quick view
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
£
118.72
Quick view
Диспергирование, смешение в потоке
£
118.72
Quick view
Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)
£
118.72
Quick view
Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)
£
118.72
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
£
118.72
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE]
£
118.72
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE]
£
118.72
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE]
£
118.72
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
£
118.72
Quick view
Prev
1
2
Next