Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Научные исследования

Научные исследования

Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств

Сортировать по алфавиту: от А до Я
12 На страницу
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
18 000.00 ₽

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.

Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.

Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных,  отраженных электронов и в режиме «напросвет».

Основные технические характеристики

Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ   
1нм

Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ
1,5 нм

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВ
не более 10 нм.

Диапазон регулировки увеличения
30¸800000 крат.

Диапазон измерения линейных размеров
0,02¸10000 мкм

Погрешность измерений линейных размеров не более
5 %.

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения
0,1¸30 кВ

Производитель:
Hitachi, Япония

+ −
Купить в один клик
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
5 200.00 ₽

Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV

+ −
Купить в один клик
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
12 000.00 ₽

Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия  

+ −
Купить в один клик
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме
18 000.00 ₽

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме

+ −
Купить в один клик
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации
27 000.00 ₽

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации

+ −
Купить в один клик
Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием
24 000.00 ₽

Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием

+ −
Купить в один клик
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания, анализ размеров наночастиц
7 000.00 ₽

Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания

+ −
Купить в один клик
Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
20 000.00 ₽

Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа

+ −
Купить в один клик
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
34 500.00 ₽

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

+ −
Купить в один клик
Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
35 500.00 ₽

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

+ −
Купить в один клик
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
5 000.00 ₽

Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания

+ −
Купить в один клик
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
11 000.00 ₽

Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии

+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2 3 4 5 6 7 8
Вперед