Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств

Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

24 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Анализ распределения частиц по размеру в диапазоне 0,1 - 1000 мкм, диспергированных в воде или органическом растворителе

9 000.00 ₽

Лазерный дифракционный анализатор размеров частиц SALD-2300, Научные исследования, Shimadzu

Анализ распределения частиц по размеру в диапазоне 0,1 - 1000 мкм, диспергированных в воде или органическом растворителе

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час

16 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Микроскоп двухлучевой электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час

20 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.

Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды

titan

Технические характеристики:
Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;
Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;
Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;
Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;
Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;
Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);
Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;
Полный автоматический контроль.

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час

9 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Биологическая визуализация и измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также химический анализ поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution

2 600.00 ₽

Спектрометр комбинационного рассеяния (рамановский) LabRAM HR Evolution, Научные исследования, HORIBA

Биологическая визуализация и измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также химический анализ поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

130 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

222 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Диспергирование, гомогенизация, перемешивание, смешение в потоке, эмульгирование на диспергаторе MagicLab

12 000.00 ₽

Диспергатор многофункциональный MagicLAB, Научные исследования, IKA

Диспергирование, гомогенизация, перемешивание, смешение в потоке, эмульгирование на диспергаторе MagicLab

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Идентификация образца методом рентгеновской дифрактометрии

11 000.00 ₽

Рентгеновский дифрактометр XRD-7000, Научные исследования, Shimadzu, ГОСТ Р 51795-2019 Цементы. Методы определения содержания минеральных добавок

идентификация образца методом рентгеновской дифрактометрии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

32 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Измерение массовой доли влаги, анализ влажности

4 000.00 ₽

Шкаф сушильный вакуумный VD 53 , Научные исследования, ГОСТ 28177-89 Глины формовочные бентонитовые. Общие технические условия

Измерение массовой доли влаги, анализ влажности

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500

20 000.00 ₽

ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП JIB-4500 C МИКРОМАНИПУЛЯТОРОМ IB-32010FPUS, Научные исследования, JEOL

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Свяжитесь с нами насчёт цены

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

60 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z

60 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

30 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование и анализ ИК спектра твердого образца в таблетке КВг в диапазоне 3000 - 600 см'1

3 000.00 ₽

ИК-Фурье спектрофотометр FTIR-8400S, Научные исследования, Shimadzu, 54201 Методика определения минеральных масел на поверхности кислородного оборудования, в газах, жидком кислороде и растворителе Forane на ИК спектрометре FTIR-8400S фирмы Shimadzu. М-02-2602-08

регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра, ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе

9 000.00 ₽

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT300LV, Научные исследования, JEOL

Исследование морфологии поверхности на сканирующем электронном микроскопе

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S

14 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

5 500.00 ₽

Атомно-силовой микроскоп Bruker MultiMode 8, Научные исследования, Bruker

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде

14 200.00 ₽

Атомно-силовой микроскоп Bruker MultiMode 8, Научные исследования, Bruker

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss

3 500.00 ₽

Прямой микроскоп ZEISS Axio Imager 2 для материаловедения, Научные исследования, Carl Zeiss

Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

3 000.00 ₽

Спектрофотометр УФ — ВО UV-1800, Научные исследования, Shimadzu

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации

5 000.00 ₽

ЯМР-релаксометр Minispec mq, Научные исследования, Bruker

Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515

9 800.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп SEM-515, Научные исследования, Philips

Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philipls SEM515

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа

27 000.00 ₽

Синхронный термический анализатор STA 449 F3 (TGA/DSC), Научные исследования, NETZSCH

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения

32 000.00 ₽

Синхронный термический анализатор STA 449 F3 (TGA/DSC), Научные исследования, NETZSCH

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

14 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме

24 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком...

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии

9 000.00 ₽

Хромато-масс-спектрометр газовый GCMS-QP2010 Ultra, Научные исследования, Shimadzu

Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

6 000.00 ₽

Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800, Научные исследования, Shimadzu

Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS

9 000.00 ₽

Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр настольного типа EDX 800HS2 , Научные исследования, Shimadzu

Описание аналитической задачи: Качественный (полуколичественный) анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной...

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)

12 000.00 ₽

Жидкостный тройной квадрупольный масс-спектрометр LCMS-8050, Научные исследования, Shimadzu

Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественное определение галогенов в органических соединениях

20 000.00 ₽

Элементный анализатор Elementar Vario EL cube для одновременного определения С, H, N, S, O, Научные исследования, Elementar

Количественное определение галогенов в органических соединениях

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной абсорбционной спектроскопии (за элемент)

3 900.00 ₽

Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрометр АА-7000, Научные исследования, Shimadzu

Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной абсорбционной спектроскопии (за элемент)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)

12 000.00 ₽

Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно связанной плазмой Prodigy High Dispersion ICP, Научные исследования, Teledyne Leeman Labs

Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений

19 000.00 ₽

Элементный анализатор Elementar Vario EL cube для одновременного определения С, H, N, S, O, Научные исследования, Elementar, 32730 Методика измерений массовой доли общего и органического углерода, общего азота, общей серы в пробах почв, почвогрунтов, грунтов, донных отложений, отходов методом элементного анализа с использованием элементных анализаторов Vario MACRO cube

Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный анализ жидких образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением

11 600.00 ₽

Рентгенофлуоресцентный спектрометр S2 PICOFOX, Научные исследования, Bruker

Количественный анализ твердых образцов рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (за одно соединение)

9 000.00 ₽

Жидкостный тройной квадрупольный масс-спектрометр LCMS-8050, Научные исследования, Shimadzu, ГОСТ Р ИСО 18363-1-2019 Жиры и масла животные и растительные. Определение содержания сложных эфиров жирных кислот монохлорпропандиолов (МХПД) и глицидола с применением ГХ/МС. Часть 1. Метод с использованием быстрой щелочной переэтерификации и измерения со

Количественный анализ органических соединений методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (за одно соединение)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный анализ органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии (за одно соединение)

9 000.00 ₽

Хромато-масс-спектрометр газовый GCMS-QP2010 Ultra, Научные исследования, Shimadzu

Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)

9 000.00 ₽

Газовый хроматограф GC-2010 Plus, Научные исследования, Shimadzu, ГОСТ 34606-2019 Средства лекарственные для ветеринарного применения, корма, кормовые добавки. Метод определения содержания ароматических компонентов с помощью газожидкостной хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием

Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный анализ твердых образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением

12 000.00 ₽

Рентгенофлуоресцентный спектрометр S2 PICOFOX, Научные исследования, Bruker

Количественный анализ твердых образцов рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

6 000.00 ₽

Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800, Научные исследования, Shimadzu

Количественный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

24 000.00 ₽

Энергодисперсионные спектрометры EDX-7000/8000, Научные исследования, Shimadzu

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS

12 000.00 ₽

Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр настольного типа EDX 800HS2 , Научные исследования, Shimadzu

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

29 600.00 ₽

Последовательный рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный спектрометр Shimadzu Lab Center XRF-1800, Научные исследования, Shimadzu

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

24 000.00 ₽

Энергодисперсионные спектрометры EDX-7000/8000, Научные исследования, Shimadzu

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Поиск

Научные исследования

Оставайтесь на связи

Моя учетная запись

Зарегистрировать лабораторию

Моя лаборатория

Покупательский сервис

О нас

Поиск

Научные исследования

Оставайтесь на связи

Присоединяйтесь!

Моя учетная запись

Зарегистрировать лабораторию

Моя лаборатория

Покупательский сервис

О нас