Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Научные исследования

Научные исследования

Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
12 000.00 ₽

Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия  

+ −
Купить в один клик
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме
18 000.00 ₽

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме

+ −
Купить в один клик
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации
27 000.00 ₽

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации

+ −
Купить в один клик
Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием
24 000.00 ₽

Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием

+ −
Купить в один клик
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания, анализ размеров наночастиц
7 000.00 ₽

Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания

+ −
Купить в один клик
Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
20 000.00 ₽

Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа

+ −
Купить в один клик
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
34 500.00 ₽

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

+ −
Купить в один клик
Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
35 500.00 ₽

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

+ −
Купить в один клик
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
5 000.00 ₽

Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания

+ −
Купить в один клик
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
11 000.00 ₽

Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии

+ −
Купить в один клик
Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации
18 000.00 ₽

Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации

+ −
Купить в один клик
Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
18 000.00 ₽

Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам

+ −
Купить в один клик
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
20 000.00 ₽

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

+ −
Купить в один клик
Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца
7 000.00 ₽

Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца

+ −
Купить в один клик
Получение 1H ЯМР-спектра образца
7 000.00 ₽

Получение 'Н ЯМР-спектра образца

+ −
Купить в один клик
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
10 800.00 ₽
Описание лабораторного тестирования: Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии Используемое...
+ −
Купить в один клик
Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС
80 000.00 ₽

Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС

+ −
Купить в один клик
Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе
9 000.00 ₽

Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе

+ −
Купить в один клик
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)
8 000.00 ₽

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)

+ −
Купить в один клик
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)
26 000.00 ₽

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

+ −
Купить в один клик
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
3 000.00 ₽

Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии

+ −
Купить в один клик
Пробоподготовка методом лиофильного высушивания
7 000.00 ₽

Пробоподготовка методом лиофильного высушивания 

+ −
Купить в один клик
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00 ₽

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

+ −
Купить в один клик
Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца
26 000.00 ₽

Регистрация 13С ЯМР-спектра твердого образца

+ −
Купить в один клик
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
3 000.00 ₽

Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1

+ −
Купить в один клик
Регистрация и анализ ИК спектра твердого образца в вазелиновом масле в диапазоне 3000 - 600 см'1
6 000.00 ₽

регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра,  ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости

+ −
Купить в один клик
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
9 000.00 ₽

Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца

+ −
Купить в один клик
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
15 000.00 ₽

Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ

+ −
Купить в один клик
Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре
48 000.00 ₽

Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра азота 15N на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра водорода 2H на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽

Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽

Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent 

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽

Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра фосфора 31P на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽

Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽

Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent

+ −
Купить в один клик
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
68 000.00 ₽

Регистрация,  расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

+ −
Купить в один клик
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
200 000.00 ₽

Регистрация,  расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

+ −
Купить в один клик
Центрифугирование
6 000.00 ₽

Центрифугирование 

+ −
Купить в один клик
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
15 950.00 ₽

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

+ −
Купить в один клик
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
62 000.00 ₽

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

+ −
Купить в один клик
 Назад
1 2
Вперед