Москва

Поиск

+7(495)661-61-09Пн-Пт: 9:00-18:00
Заказать обратный звонок

Научные исследования

Научные исследования

Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств

Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
12 000.00 ₽
+ −
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме
18 000.00 ₽
+ −
Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации
27 000.00 ₽
+ −
Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием
24 000.00 ₽
+ −
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания, анализ размеров наночастиц
7 000.00 ₽
+ −
Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа
20 000.00 ₽
+ −
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
34 500.00 ₽
+ −
Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
35 500.00 ₽
+ −
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
5 000.00 ₽
+ −
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
11 000.00 ₽
+ −
Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации
18 000.00 ₽
+ −
Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
18 000.00 ₽
+ −
Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа
20 000.00 ₽
+ −
Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца
7 000.00 ₽
+ −
Получение 1H ЯМР-спектра образца
7 000.00 ₽
+ −
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
10 800.00 ₽
+ −
Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС
80 000.00 ₽
+ −
Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе
9 000.00 ₽
+ −
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)
8 000.00 ₽
+ −
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)
26 000.00 ₽
+ −
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
3 000.00 ₽
+ −
Пробоподготовка методом лиофильного высушивания
7 000.00 ₽
+ −
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00 ₽
+ −
Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца
26 000.00 ₽
+ −
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
3 000.00 ₽
+ −
Регистрация и анализ ИК спектра твердого образца в вазелиновом масле в диапазоне 3000 - 600 см'1
6 000.00 ₽
+ −
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
9 000.00 ₽
+ −
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
15 000.00 ₽
+ −
Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре
48 000.00 ₽
+ −
Регистрация ЯМР спектра азота 15N на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽
+ −
Регистрация ЯМР спектра водорода 2H на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽
+ −
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽
+ −
Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽
+ −
Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽
+ −
Регистрация ЯМР спектра фосфора 31P на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽
+ −
Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent
12 000.00 ₽
+ −
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
68 000.00 ₽
+ −
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
200 000.00 ₽
+ −
Центрифугирование
6 000.00 ₽
+ −
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
15 950.00 ₽
+ −
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
62 000.00 ₽
+ −
 Назад
1 2
Вперед