English
Русский
English
($)
($)
(₽)
(€)
(£)
Описание
О проекте
Зарегистрировать лабораторию
Лаборатории
Сотрудничество
Контакты
Москва
Мой профиль
Orders
Comparison list
Wish list
Track my order(s)
Track my order(s)
Sign in
Register
E-mail
Password
Forgot your password?
Register for a new account
Sign in
Remember me
Поиск
+7(495)
661-61-09
Mon-Fr 9a.m.-6p.m.
Request call
Cart is empty
Cart is empty
View cart
Checkout
Menu
Каталог услуг
Научные аналитические исследования и тесты
Спектральные исследования и анализы
Хроматографические тесты и исследования
Рентгеноструктурные анализы и тесты
Микроскопические тесты и исследования
Анализ пористости проницаемости
Профилометрия и топографический анализ
View more
→
Микробиологические исследования и анализы
Секвенирование
Цитофлуориметрия
Физико-механические испытания
Химические исследования и анализы
Медицинские анализы и тесты
Обработка материалов
Аренда оборудования
123456
Анализ алкоголя
Анализ воды
Анализ почвы
Анализы пищевых продуктов
Научные исследования
Анализ пластмассы
Измерение толщины
Исследование древесины
Анализ лакокрасочных материалов
Тесты и анализы металла
Химические исследования
Исследование порошков
Стандарты и методики
Каталог лабораторий
Каталог производителей
Каталог оборудования
Скидки
Home
/
Научные исследования
Научные исследования
Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств
Sort Alphabetically: Z to A
Newest Items First
Sort Alphabetically: A to Z
Sort by Price: Low to High
Sort by Price: High to Low
Sort by Popularity
50 Per Page
12 Per Page
24 Per Page
48 Per Page
96 Per Page
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
$
819.94
Quick view
Центрифугирование
$
79.35
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
$
2,644.97
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
$
899.29
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
$
634.79
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
$
158.70
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
$
158.70
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
$
158.70
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE] [CLONE]
$
158.70
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE] [CLONE]
$
158.70
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent [CLONE]
$
158.70
Quick view
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
$
158.70
Quick view
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ [CLONE]
$
264.50
Quick view
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
$
198.37
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE] [CLONE] [CLONE]
$
238.05
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE] [CLONE]
$
357.07
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца [CLONE]
$
238.05
Quick view
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
$
119.02
Quick view
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1 [CLONE] [CLONE]
$
39.67
Quick view
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1 [CLONE]
$
79.35
Quick view
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
$
39.67
Quick view
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
$
449.65
Quick view
Пробоподготовка методом лиофильного высушивания
$
92.57
Quick view
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
$
39.67
Quick view
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе [CLONE]
$
264.50
Quick view
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе [CLONE]
$
119.02
Quick view
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе
$
119.02
Quick view
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии [CLONE]
$
210.94
Quick view
Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии
$
142.83
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
$
1,057.99
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE] [CLONE] [CLONE]
$
317.40
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE] [CLONE]
$
343.85
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE]
$
343.85
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE] [CLONE]
$
105.80
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца [CLONE]
$
92.57
Quick view
Получение 'Н ЯМР-спектра образца
$
92.57
Quick view
Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам
$
238.05
Quick view
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии [CLONE]
$
145.47
Quick view
Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии
$
145.47
Quick view
Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания
$
66.12
Quick view
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой [CLONE]
$
469.48
Quick view
Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой
$
456.26
Quick view
Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания
$
92.57
Quick view
Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия
$
158.70
Quick view
Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV
$
68.77
Quick view
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800
$
238.05
Quick view
Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров
$
391.46
Quick view
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии [CLONE]
$
317.40
Quick view
Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии
$
317.40
Quick view
Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)
$
119.02
Quick view
Prev
1
2
Next