Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств

Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

222 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

200 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

130 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС

80 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

68 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

62 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

60 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z

60 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре

48 000.00 ₽

ЯМР-спектрометр Agilent DD2 400 NB, Научные исследования, Agilent Technologies

Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

35 500.00 ₽

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой Aurora M90 и Aurora Elite, Научные исследования, Bruker

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

34 500.00 ₽

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой Aurora M90 и Aurora Elite, Научные исследования, Bruker

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

34 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

32 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения

32 000.00 ₽

Синхронный термический анализатор STA 449 F3 (TGA/DSC), Научные исследования, NETZSCH

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

30 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

29 600.00 ₽

Последовательный рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный спектрометр Shimadzu Lab Center XRF-1800, Научные исследования, Shimadzu

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации

27 000.00 ₽

Времяпролетный тандемный масс-спектрометр высокого разрешения с матрично-ассоциированной лазерной десорбцией-ионизацией Axima (MALDI), Научные исследования, Shimadzu

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа

27 000.00 ₽

Синхронный термический анализатор STA 449 F3 (TGA/DSC), Научные исследования, NETZSCH

Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца

26 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Регистрация 13С ЯМР-спектра твердого образца

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

26 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме

24 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком...

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

24 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием

24 000.00 ₽

Спектрометр ЯМР Avance III 600, Научные исследования, Bruker

Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

24 000.00 ₽

Энергодисперсионные спектрометры EDX-7000/8000, Научные исследования, Shimadzu

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

24 000.00 ₽

Энергодисперсионные спектрометры EDX-7000/8000, Научные исследования, Shimadzu

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Измерения линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведение локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком на микроскопе JIB-4500

20 000.00 ₽

ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП JIB-4500 C МИКРОМАНИПУЛЯТОРОМ IB-32010FPUS, Научные исследования, JEOL

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час

20 000.00 ₽

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.

Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды

titan

Технические характеристики:
Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;
Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;
Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;
Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;
Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;
Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);
Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;
Полный автоматический контроль.

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественное определение галогенов в органических соединениях

20 000.00 ₽

Элементный анализатор Elementar Vario EL cube для одновременного определения С, H, N, S, O, Научные исследования, Elementar

Количественное определение галогенов в органических соединениях

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

20 000.00 ₽

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT300LV, Научные исследования, JEOL

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа

20 000.00 ₽

Рентгеновский порошковый дифрактометр LabX XRD-6100, Научные исследования, Shimadzu, ГОСТ 28967-91 Битумы нефтяные. Рентгенофазовый метод определения парафинов

Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений

19 000.00 ₽

Элементный анализатор Elementar Vario EL cube для одновременного определения С, H, N, S, O, Научные исследования, Elementar, 32730 Методика измерений массовой доли общего и органического углерода, общего азота, общей серы в пробах почв, почвогрунтов, грунтов, донных отложений, отходов методом элементного анализа с использованием элементных анализаторов Vario MACRO cube

Количественный CHNOS-элементный анализ твердых и жидких органических соединений

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800

18 000.00 ₽

Микроскоп электронный растровый S-4800, Научные исследования, HITACHI, 28123 ФР.1.27.2017.27749 Измерение линейных размеров элементов рельефа поверхности ступенчатой формы по вертикальной оси с использованием принципов фотограмметрии при помощи микроскопа электронного растрового S-4800 в диапазоне измерений линейных размеро

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.

Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.

Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных, отраженных электронов и в режиме «напросвет».

Основные технические характеристики

Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ
1нм

Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ
1,5 нм

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВ
не более 10 нм.

Диапазон регулировки увеличения
30¸800000 крат.

Диапазон измерения линейных размеров
0,02¸10000 мкм

Погрешность измерений линейных размеров не более
5 %.

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения
0,1¸30 кВ

Производитель:
Hitachi, Япония

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме

18 000.00 ₽

Времяпролетный тандемный масс-спектрометр высокого разрешения с матрично-ассоциированной лазерной десорбцией-ионизацией Axima (MALDI), Научные исследования, Shimadzu

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации

18 000.00 ₽

Времяпролетный тандемный масс-спектрометр высокого разрешения с матрично-ассоциированной лазерной десорбцией-ионизацией Axima (MALDI), Научные исследования, Shimadzu

Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам

18 000.00 ₽

Высокоточная многофункциональная сорбционная система Autosorb iQ , Научные исследования, Quantachrome Instruments

Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час

16 000.00 ₽

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Микроскоп двухлучевой электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

15 950.00 ₽

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп ΣIGMA, Научные исследования, Carl Zeiss

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ

15 000.00 ₽

Рентгеновский порошковый дифрактометр LabX XRD-6100, Научные исследования, Shimadzu, ГОСТ Р 51795-2019 Цементы. Методы определения содержания минеральных добавок

Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде

14 200.00 ₽

Атомно-силовой микроскоп Bruker MultiMode 8, Научные исследования, Bruker

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S

14 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

14 000.00 ₽

Сканирующий электронный микроскоп Quattro S, Научные исследования, Thermo Fisher Scientific

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия

12 000.00 ₽

ИК-Фурье спектрометр Bruker Tensor 27, Научные исследования, Bruker

Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Диспергирование, гомогенизация, перемешивание, смешение в потоке, эмульгирование на диспергаторе MagicLab

12 000.00 ₽

Диспергатор многофункциональный MagicLAB, Научные исследования, IKA

Диспергирование, гомогенизация, перемешивание, смешение в потоке, эмульгирование на диспергаторе MagicLab

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)

12 000.00 ₽

Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно связанной плазмой Prodigy High Dispersion ICP, Научные исследования, Teledyne Leeman Labs

Количественное определение металлов в органических соединениях методом атомной эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой (за образец)

Кол-во:

+ −

Купить в один клик

Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)

12 000.00 ₽

Жидкостный тройной квадрупольный масс-спектрометр LCMS-8050, Научные исследования, Shimadzu

Качественный анализ состава образца (органических соединений) методом высокоэффективной жидкостной хромато-масс-спектрометрии (ионизация электрораспылением)

Кол-во:

+ −