Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
Центрифугирование
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent