Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии
Центрифугирование
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности
Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности
Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра фосфора на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent
Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent
Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре
Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ
Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца
регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра, ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости
Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1
Регистрация 13С ЯМР-спектра твердого образца
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Пробоподготовка методом лиофильного высушивания
Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)
Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)
Получение снимка поверхности на растровом электронном микроскопе