Научные исследования, научные анализы, измерения параметров, тестирования, определения свойств

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM

62 000.00 ₽

+ −

Элементный анализ микрообъектов с использованием метода сканирующей электронной микроскопии

15 950.00 ₽

+ −

Центрифугирование

6 000.00 ₽

+ −

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 2 категории сложности

200 000.00 ₽

+ −

Регистрация, расшифровка и интерпретация двумерных ЯМР спектров 1 категории сложности

68 000.00 ₽

+ −

Регистрация ЯМР спектра фтора 19F на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

+ −

Регистрация ЯМР спектра фосфора 31P на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

+ −

Регистрация ЯМР спектра углерода на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

+ −

Регистрация ЯМР спектра кремния 29 Si на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

+ −

Регистрация ЯМР спектра водорода на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

+ −

Регистрация ЯМР спектра водорода 2H на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

+ −

Регистрация ЯМР спектра азота 15N на спектрометре Agilent

12 000.00 ₽

+ −

Регистрация одномерного ЯМР спектра при переменной температуре

48 000.00 ₽

+ −

Регистрация и расшифровка рентгеноструктурных дифрактограмм кристаллических веществ

15 000.00 ₽

+ −

Регистрация и анализ масс-спектра ионизации электрораспылением образца

9 000.00 ₽

+ −

Регистрация и анализ ИК спектра твердого образца в вазелиновом масле в диапазоне 3000 - 600 см'1

6 000.00 ₽

+ −

Регистрация и анализ ИК спектра жидкости в диапазоне 3000 - 600 см'1

3 000.00 ₽

+ −

Регистрация 13C ЯМР-спектра твердого образца

26 000.00 ₽

+ −

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM

34 000.00 ₽

+ −

Пробоподготовка методом лиофильного высушивания

7 000.00 ₽

+ −

Приготовление тонких срезов образцов для исследования методом электронной микроскопии

3 000.00 ₽

+ −

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (твердый образец)

26 000.00 ₽

+ −

Получение ЯМР спектров на ядрах F и Р (жидкий образец)

8 000.00 ₽

+ −

Получение снимка поверхности на SEM растровом электронном микроскопе

9 000.00 ₽

+ −

Получение набора двумерных ЯМР-спектров для растворимого образца COSY, TOCSY, NOESY, HSQC, НМВС

80 000.00 ₽

+ −

Получение изображения поверхности образца методом сканирующей электронной микроскопии

10 800.00 ₽

+ −

Получение 1H ЯМР-спектра образца

7 000.00 ₽

+ −

Получение 13C ЯМР-спектра хорошо растворимого в растворителях для ЯМР образца

7 000.00 ₽

+ −

Определение элементного состава микроучастка поверхности на растровом электронном микроскопе с помощью приставок для волнодисперсионного или энергодисперсионного ренгенофлуоресцентного анализа

20 000.00 ₽

+ −

Определение удельной поверхности, общей пористости, распределения пор по размерам

18 000.00 ₽

+ −

Определение точного значения массы иона с помощью матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации

18 000.00 ₽

+ −

Определение степени кристалличности образца методом рентгеновской дифрактометрии

11 000.00 ₽

+ −

Определение плотности, объемной массы методом гидростатического взвешивания

5 000.00 ₽

+ −

Определение концентрации одного элемента в твердой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

35 500.00 ₽

+ −

Определение концентрации одного элемента в жидкой пробе масс спектральным методом с индуктивно связанной плазмой

34 500.00 ₽

+ −

Определение количественного соотношения кристаллических фаз и степени кристалличности вещества посредством рентгеноструктурного анализа

20 000.00 ₽

+ −

Определение дзета-потенциала частиц методом лазерного динамического светорассеивания, анализ размеров наночастиц

7 000.00 ₽

+ −

Определение гидросильных групп образца методом ЯМР спектрометрии на ядрах Р. с предварительным фосфитилированием

24 000.00 ₽

+ −

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в режиме фрагментации

27 000.00 ₽

+ −

Масс-спектральный анализ матрично-активированной лазерной десорбции/ионизации образца в линейном режиме

18 000.00 ₽

+ −

Лабораторный анализ на инфракрасном спектрометре ИК-спектроскопия

12 000.00 ₽

+ −

Лабораторное исследование, получение нано- и микро-изображений, спектральный точечный тест на электронном сканирующем микроскопе JSM-6490LV

5 200.00 ₽

+ −

Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур на SEM микроскопе S-4800

18 000.00 ₽

+ −

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

24 000.00 ₽

+ −

Количественный без эталонный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии с использованием метода фундаментальных параметров

29 600.00 ₽

+ −

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии на анализаторе EDX-800HS

12 000.00 ₽

+ −

Количественный анализ элементного состава образца методом энергодисперсинной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

24 000.00 ₽

+ −

Количественный анализ элементного состава образца методом волнодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектроскопии

6 000.00 ₽

+ −

Количественный анализ твердых образцов посредством рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением

12 000.00 ₽

+ −

Количественный анализ органических соединений методом газовой хроматографии с пламенно-ионизационным детектированием (за одно соединение)

9 000.00 ₽

+ −

Поиск

Научные исследования

Оставайтесь на связи

Моя учетная запись

Зарегистрировать лабораторию

Моя лаборатория

Покупательский сервис

О нас

Поиск

Научные исследования

Оставайтесь на связи

Присоединяйтесь!

Моя учетная запись

Зарегистрировать лабораторию

Моя лаборатория

Покупательский сервис

О нас