41837 ФР.1.27.2011.09317 Методика выполнения измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов с помощью микроскопа Quanta 200 3D
Сведения о разработчике МВИ
| Название | Значение |
|---|---|
| Разработчик МВИ | Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН |
| Наименование разработчика МВИ | Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН |
Сведения об аттестованной методике (методе) измерений
| Название | Значение |
|---|---|
| Номер в реестре | ФР.1.27.2011.09317 |
| Раздел реестра | Вне сферы обороны |
| Вид методики | Методика (метод) измерений |
| Назначение методики | Настоящая рекомендация устанавливает методику выполнения измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов с помощью микроскопа Quanta 200 3D |
| Наименование документа на методику | Рекомендация «ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов, регистрируемых в ионных и электронных пучках. Методика выполнения измерений с помощью микроскопа Quanta 200 3D» |
| № свидетельства об аттестации | 49ПВ |
| Дата свидетельства об аттестации | 10.03.2009 |
| Вид измерений | Геометрические измерения |
| Метод измерений | Метод сравнения длины измеряемого элемента топологии с длиной масштабной метки, предварительно откалиброванной с помощью меры МШПС-2.0К, аттестованной ОАО «НИЦПВ». |
| Измеряемая величина | Линейные размеры |
| Пределы измерений | В диапазоне 0,04- 1000 мкм. |
| Характеристика погрешности | 8 % в диапазоне 0,04 ÷ 0,08 мкм; 4 % в диапазоне 0,08 ÷ 1000 мкм. |
| Статус | Действует |
Вложения
| Название | Значение |
|---|
Общие сведения
| Название | Значение |
|---|---|
| Номер записи | 41837 |
| Дата опубликования | 18.04.2018 |
В этой категории нет товаров