Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800
Волнодисперсионный спектрометр Lab Center XRF-1800 компании Шимадзу расширяет сферу применения волнодисперсионных рентгеновских спектрометров.
- Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия Be по уран U на рентгеновском спектрометре XRF-1800 за 2,5 минуты
- Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм
- Локальный анализ в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры
- Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент)
- Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий
- Уникальная система пробоподачи образца
Технические характеристики
| Диапазон определяемых элементов | От Be по U, базовая комплектация от O по U |
| Рентгеновский генератор трубка параметры | Rh-анод c тонким торцевым окном, мощность 4 кВт опции: W, Pt, Cr аноды 60 кВ, 150 мА |
| Система охлаждения | Двойной контур, внутренний замкнутый для охлаждения анода, внешний открытый/замкнутый. Рециркулятор воды (опция). |
| Облучение образца | Сверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин |
| Система ввода образца | Маятникового типа, без динамических нагрузок |
| Автосамплер | 8 позиций; 40-позиционный (опция) |
| Держатели образцов | 7 для массивных образцов, один для локального анализа |
| Размер образца | 51 мм в диаметре, высота 38 мм |
| Первичные фильтры | Автоматическая смена 5 типов: Al, Ti, Ni, Zr, без фильтра |
| Апертуры | Автоматическая смена 5 типов: 500 мкм, 3, 10, 20, 30 мм |
| Локальный анализ | 0,5 мм диаметр; цифровая камера для контроля области анализа (опция) |
| Первичные щели | Автоматическая смена 3 типов: - стандарт - с высоким разрешением - с высокой чувствительностью |
| Аттенюатор | Автоматическое включение/выключение |
| Сменщик кристаллов | Автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях |
| Кристаллы-анализаторы | LiF (200), PET, Ge, TAP стандартные; LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 опции |
| Детекторы | Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжелых элементов, Проточный пропорциональный счетчик (FPC) для лёгких элементов |
| Система подачи газа для FPC | Электронный контроль плотности; потребление газа 5 см3/мин |
| Контроль степени разрежения | Стабилизатор вакуума |
| Атмосфера анализа | Воздух/вакуумирование; предварительное вакуумирование с двумя скоростями; система напуска гелия/азота (опция) |