Атомно-силовой микроскоп Bruker MultiMode 8
Bruker MultiMode 8 - надежный сканирующий зондовый микроскоп, который предоставляет широкий спектр методик для исследования физических свойств поверхности. Открытая архитектура микроскопа позволяет быстро менять сканирующие головки, сканеры и держатели кантилеверов, подавать на образец сигналы от внешних источников, устанавливать дополнительные модули.
Режимы работы
Bruker MultiMode 8 - универсальный микроскоп, который использует эксклюзивные технологии компании Bruker для быстрой и удобной работы с изображениями:
PeakForce Tapping упрощает процесс работы и обеспечивает быстрое получение результатов Суть режима: колебания зонда генерируются с помощью вертикальных перемещений трубки пьезосканера с частотой 2 кГц. При каждом касании острия кантилевера поверхности образца строится кривая силы взаимодействия зонд-образец. Максимальное значение этой силы используется в качестве сигнала обратной связи. Система автоматически анализирует получаемое изображение и «на лету» оптимизирует параметры сканирования, делая качество картинки наилучшим.
ScanAsyst позволяет получать изображение в шесть раз быстрее и более стабильно путем прямого контроля силы взаимодействия зонда и образца, и автоматической оптимизации параметров сканирования.
ScanAsyst - первая интеллектуальная система, позволяющая автоматически оптимизировать качество изображений атомно-силовой микроскопии. ScanAsyst освобождает исследователя от необходимости настраивать параметры обратной связи (setpoint, feedback gains), скорость сканирования. Это делает процесс получения картинки не сложнее, чем выбор области сканирования, как на воздухе, так и в жидкости.
- Неразрушающие измерения. Силы взаимодействия зонд-образец существенно ниже, чем даже в полуконтактном режиме. Это делает возможным работу с особо деликатными образцами и сверхострыми зондами
- Нет необходимости настройки параметров сканирования (setpoint, feedback gains, скорость сканирования) и резонансной частоты кантилевера
- Отличные результаты при работе в жидкостях т.к. значение параметра setpoint динамически подстраивается
- Возможность профилирования узких и глубоких впадин и канавок.
PeakForce QNM обеспечивает количественное картирование свойств материала за счет анализа взаимодействий зонда и образца для выявления наномеханических свойств - упругости, адгезии и деформации.
- Высокое (~2нм) латеральное разрешение карт механических свойств материалов
- Изображения механических свойств выдаются со шкалой в абсолютных единицах
- Широкий диапазон значений измеряемых характеристик. Модуль упругости можно измерять в пределах 1 МПа – 100 ГПа, адгезию - в пределах 10 пН – 10 мкН.
- Неразрушающие измерения
- Постоянная частота колебаний зонда – 2 кГц
- Возможность применения широкого диапазона зондов.
- Контроллер Nanoscope V, обеспечивает высокую скорость обработки массива силовых кривых, изображения топографии и карт поверхности одновременно по восьми независимым каналам.
PeakForce TUNA позволяет осуществлять картирование проводимости даже на самых хрупких образцах, а также сопоставлять эту информацию с данными о механических свойствах материала.
Режимы работы MultiMode 8
Контактный режим, режим латеральных сил, полуконтактный режим, режим регистрации фазы, двухпроходный режим, магнитно-силовая микроскопия, электросиловая микроскопия, кельвин-микроскопия (потенциал поверхности), силовая спектроскопия (в т.ч. силовое картирование), туннельная микроскопия и спектроскопия, режим торсионных колебаний, микроскопия пьезоотклика, режим Harmonix, наноиндентирование и нанолитография, наноманипуляции, термическая микроскопия, микроскопия сопротивления растекания, туннельная АСМ, проводящая АСМ, емкостная микроскопия, электрохимическая АСМ, электрохимическая СТМ, термостатирование образцов, peakForceTapping, peakForce QNM, scanAsyst.
Основные характеристики
Класс лазера | Класс 2М, 1мВ, 690нм (IEC и US CDRH) |
Размер образца | 15мм диаметр, 5мм толщина |
Уровень шума в режиме записи | < 0,3 Å (по Z, полуконтактный режим на воздухе в точке) |
Вибрационная защита | Стол модели VT-102 размером 60 х 60х 78 см (предполагает наличие линии сжатого воздуха) ИЛИ Пассивная изолирующая платформа VT-50 размером 42 х 42 х 21 см (не требует сжатого воздуха) ИЛИ Изолированная платформа на эластичном подвесе TRVI (не подразумевает использования оптического микроскопа) |
База микроскопа | Standard – поддерживает все режимы без дополнительных модулей ИЛИ Application module ready – поддерживает дополнительные опциональные модули ИЛИ Non-magnetic application module ready – поддержка работы в магнитных полях |