41275 ФР.1.27.2011.09320 Методика выполнения измерений линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции с помощью электронного микроскопа (ПЭМ) JEM-2100. Объект контроля –аттестованный тест объект из поликрист

Аттестующая организация

НазваниеЗначение
Наименование аттестующей организацииНет данных
Номер аттестата аккредитацииНет данных
Адрес аттестующей организацииНет данных
Телефон аттестующей организацииНет данных
E-mail аттестующей организацииНет данных

Сведения о разработчике МВИ

НазваниеЗначение
Разработчик МВИИнститут кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
Наименование разработчика МВИИнститут кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН

Сведения об аттестованной методике (методе) измерений

НазваниеЗначение
Номер в реестреФР.1.27.2011.09320
Раздел реестраВне сферы обороны
Вид методикиМетодика (метод) измерений
Назначение методикиМетодика выполнения измерений линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции с помощью электронного микроскопа (ПЭМ) JEM-2100. Объект контроля –аттестованный тест объект из поликристаллического золота с параметром решетки 0,204 нм
Наименование документа на методикуРекомендация «Измерение линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа JEM-2100»
№ свидетельства об аттестации53ПВ
Дата свидетельства об аттестации31.08.2009
Вид измеренийГеометрические измерения
Метод измеренийМетод сравнения длин
Измеряемая величинаЛинейные размеры
Пределы измеренийИзображение в диапазоне 3-20нм Дифракция в диапазоне 0,14-3,нм
Характеристика погрешности±6% при доверительной вероятности Р+0,95
СтатусДействует

Вложения

НазваниеЗначение

Общие сведения

НазваниеЗначение
Номер записи41275
Дата опубликования18.04.2018