РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП JSM-6460LV С ПРИСТАВКОЙ РЕНТГЕНОВ-СКОГОМИКРОАНАЛИЗА INCAX-SIGHT, ПРИСТАВКОЙ РЕГИСТРАЦИИ СПЕКТРОВ МИКРО-КАТОДОЛЮМИНЕС-ЦЕНЦИИMONOCL3 И ПРИСТАВКОЙ РЕГИСТРАЦИИ ДИФРАКЦИИ ОБРАТНО-РАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ
Назначение
Микроскоп электронный растровый JSM-6460LV предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных объектов и структур, в том числе диэлектрических.
Описание
Микроскоп представляет собой стационарную автоматизированную многофункциональную измерительную систему и состоит из электронно-оптической системы (колонны), камеры объектов с механизмом перемещения объектов, детектора вторичных и детектора отраженных электронов, вакуумной системы, видеоконтрольного устройства, блока питания.
Принцип получения изображения в микроскопе заключается в модуляции яркости монитора видеоконтрольного устройства сигналами, пропорциональными числу зарегистрированных вторичных отраженных электронов, при сканировании сфокусированного электронного зонда по поверхности объекта. Отношение размера изображения на мониторе к размеру растра на образце определяет увеличение микроскопа.
При работе микроскопа обеспечиваются безопасные условия труда оператора. При максимальных значениях ускоряющего напряжения и тока зонда мощность эквивалентной дозы рентгеновского излучения в любой доступной точке на расстоянии 10 см от поверхности колонны и камеры объектов микроскопа не превышает 1 мкЗв/ч.
Программное обеспечение
Управление микроскопом осуществляют с помощью встроенного контроллера и внешней ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО).
Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010.
Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1.
Наименование ПО | Идентификационное наименование ПО | Номер версии ПО | Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма) | Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО |
Программа управления процессом измерений и обработки результатов измерений | TR0104-020 | 6.54 | 79BD56A52F4Е65 CF14CC36193B05 85A629861652466 F272F3DB974B2F 378878B | ГОСТ Р 34.11-94 |
Технические характеристики
Метрологические и технические характеристики приведены в Таблице 2 Таблица 2
Наименование характеристики | Значение |
Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 30кВ (образец - кремний), нм, не более | 30 |
Диапазон регулировки увеличения, крат | 8-300000 |
Диапазон измерений линейных размеров, мкм | 0,15-5000 |
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров, %: - в диапазоне от 0,15 до 0,3 мкм | ±11 |
- в диапазоне от 0,3 до 0,6 мкм | ±7 |
- в диапазоне от 0,6 до 5000 мкм | ±5 |
Диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ | 0,3-30 |
Напряжение питания от сети переменного тока частотой (50±1) Гц, В | 220+22-33 |
Потребляемая мощность, кВ-А | 3 |
Габаритные размеры (длина х ширина х высота), мм: - стенд с колонной, агрегатом вакуумным, ВКУ | 750х960х1480 |
- видеоконтрольный блок | 1150х900х700 |
Масса, кг | 600 |
Условия эксплуатации: - температура окружающей среды, °С | 20 ± 5 |
- относительная влажность воздуха, %, не более | 60 |
- атмосферное давление, кПа | 84-107 |
Знак утверждения типа
наносится в виде наклейки на электронно-оптическую систему (колонну) микроскопа и титульный лист технической документации фирмы-изготовителя типографским способом.
Комплектность
В комплект микроскопа входят: микроскоп электронный растровый JSM-6460LV, комплект ЗИП, расходные материалы, техническая документация фирмы-изготовителя.
Поверка
осуществляется по ГОСТ Р 8.631-2007 «Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки».
Средства поверки: мера ширины и периода специальная МШПС-2.0К.
Сведения о методах измерений
Техническое описание «Микроскоп электронный растровый JSM-6460LV фирмы «JEOL», Япония».
Нормативные документы, устанавливающие требования к микроскопу электронному растровому JSM-6460LV
Техническая документация фирмы-изготовителя.
Рекомендации к применению
- применяется вне сферы государственного регулирования обеспечения единства измерений.