Лабораторное исследование и получение изображения на электронный сканирующем микроскопе JSM-6490LV
Сканирующий тест, анализ топографии поверхности, проведение 3D исследования на электронном двухлучевом микроскопе Quanta 3D FEG
Рентгенофлуоресцентный спектральный выездной анализ металлов, руд, почв на портативном переносном рентгеновском спектрометре Explorer Skyray Instrument
Рентгенофлуоресцентный метод спектрального анализа основан на сборе и анализе спектра, полученного после возбуждения характеристического рентгеновского излучения, которое возникает при переходе атома из возбуждённого в основное состояние. Атомы разных элементов испускают фотоны со строго определёнными энергиями, измерив которые можно определить качественный элементный состав. Для измерения количества элемента регистрируется интенсивность излучения с определённой энергией.
Аналитический метод анализа: Энергодисперсионный рентгеновской флуоресцентный
Измеряемые элементы, диапазон атомного номера от 12 до 92 [элементы от магния (Mg) до урана (U)] могут быть измерены
Одновременный анализ: до 40 элементов
Микрокомпьютер: настроенная система; CPU: 1G; Системная память: 1G; Расширение до 32G; Стандарт 4G
Аналитический диапазон: 1 ppm ~ 99,99>#/p###
Время анализа: 1 ~ 60 секунд
Встроенная система: GPS, WiFi, Bluetooth
Источник Питания: Аккумуляторная литиевая батарея, стандарт 9000mAh, устойчивое время работы до 12 часов; опционально 27000mAh superbattery с широким напряжением 110V ~ 220V, универсальный адаптер для подзарядки питания
Анализируемые материалы: твердые, жидкие вещества, порошки
Детектор: Кремниевый SDD или Fast-SDD детектор (опционально)
Минимальное разрешение детектора может достигать 128eV
Источник возбуждения: интегрированная миниатюрная серебрянная рентгеновская лучевая трубка 50кВ / 200uA и высоковольтный источник питания
Коллиматоры и фильтры: диаметры коллиматорв 4,0 мм и 2,0 мм, 6 видов фильтров с автоматическим переключением
Видеосистема: 5mpx пикселей камера высокого разрешения
Экран дисплея: Новый 5-дюймовый сенсорный экран трансфлективный ЖК-дисплей, разрешение 1080 x 720
Предел обнаружения: минимальные пределы обнаружения 1 ~ 500 ppm
Диапазон рабочих температур: от -20 до +50°C.
Габариты и вес:
Размеры инструмента 244мм (длина) x 90 мм (ширина) x 300 мм (высота)
Вес : 1,7 кг
Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
Эллипсометр Uvisel позволяет проводить анализ, исследования, тестирования свойств тонких пленок, проводить моделирование широкого круга образцов: анализировать многослойные, анизотропные, градиентные структуры, определять композиционный состав пленок, пористость и шероховатость. В базу данных DeltaPsi2 входит более 100 материалов и более 30 дисперсионных формул, а также алгоритмы анализа композиционных материалов. Все это позволяет исследовать образцы различной природы: полупроводники, диэлектрики и металлы, например, такие, как полимерные пленки, просветляющие покрытия, солнечные батареи, оптоэлектронные устройства и другие. Диапазон длин волн 190-2100 нм; угол падения от 35 до 90°; точность определения показателя преломления n~0,002
Диапазон сканирования 100х100х15 мкм (±10 %); высокая линейность позволяет использовать сканер для метрологических приложений; малошумящие датчики обратной связи позволяют получать разрешение, при котором различимы атомарные ступеньки; максимальный размер образца 5х5х1 см. Используется обычный кантилевер (контактный/бесконтакнтный)
Эллипсометр Auto SE объединяет максимальную эффективность анализа тонких пленок и простоту работы на приборе. Позволяет проводить исследования в полностью автоматическом режиме, путем нажатия одной кнопки. Измерение образца занимает всего несколько секунд, и результирующий отчет полностью описывает тонкопленочную структуру – толщины слоев, оптические константы, шероховатость поверхности и неоднородность слоев.
Разрешение по вертикали 0.5 нм; длина получаемого изображения 55 мм; диапазон перемещения по вертикали до 1.2 мм; предметный столик (диаметр 200 мм) с сервоприводами для установки образца; диапазон перемещения предметного столика 150х178 мм
Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.
Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии. Оснащен автоэмиссионным катодом холодного типа.
Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных, отраженных электронов и в режиме «напросвет».
Основные технические характеристики
Разрешение при ускоряющем напряжении 15кВ 1нм
Разрешение при ускоряющем напряжении 1кВ1,5 нм
Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15кВне более 10 нм.
Диапазон регулировки увеличения30¸800000 крат.
Диапазон измерения линейных размеров0,02¸10000 мкм
Погрешность измерений линейных размеров не более5 %.
Диапазон регулировки ускоряющего напряжения0,1¸30 кВ
Производитель:Hitachi, Япония
Возможные тесты на приборе
Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ.
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U на растровом электронном микроскопе JSM-6460LV и микроприставкой INCAX-SIGHT
Аналитическое исследование тестирование материалов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis 200 c корректором сферической аберрации в режиме изображений и высокоскоростным энергодисперсионным рентгеновским микроанализатором.
Прибор используется для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.
Микроскоп двухлучевой электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.
Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных расстояний в режиме дифракции на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
Анализ питьевой воды по 33 показателям: pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др
Система гель-документирования Gel Doc XR+ создана на базе CCD камеры высокого разрешения и чувствительности, и позволяет решать основные задачи анализа и документирования гелей и мембран. Gel Doc XR+ подходит для работы с широким спектром образцов, от полиакриламидных и агарозных гелей до блотов, и позволяет использовать такие методы детекции, как денситометрия, флуоресценция и колориметрия. Полная автоматизация всех процессов и программное обеспечение Image Lab позволяют быстро получать точные и воспроизводимые результаты.
Анализ питьевой воды по 55 показателям: pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.
Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.
Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.
Производитель: ЗАО “НТ-МДТ”, Россия
Диффузионная длина (LD) 10 ÷ 2000 мкм при LD < t
Концентрация металла (Fe) 10⁹ ÷ 10¹³ см⁻³
Погрешность измерений: 15 ÷ 30 >#/p###
Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.
Анализ воды из скважины по 16 показателям на pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др
Анализ воды из скважины по 22 показателям на pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др
Анализ поверхности материалов и образцов методами оптической микроскопии на прямом микроскопе Carl Zeiss Axio Imager M2
Анализ питьевой воды по 63 показателям: pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др
Анализ питьевой воды по 22 показателям: pH, жесткость, мутность, сухой остаток, минерализация, электропроводность, цветность, щелочность, запахи, неорганика, элементы и др
Анализ воды из скважины по 58 показателям
Исследование элементного анализа концентраций матричного состава посредством атомно-эмиссионного микроскопа Carl Zeiss AAS-3
В спектрофотометре используется метод атомно-абсорбционного спектрального анализа с использованием пламенной атомизации. Для анализа используется тип пламени «ацетилен - воздух». Принцип действия спектрофотометра основан на спектрально - селективном поглощении излучения атомов определяемого элемента, находящегося в свободном состоянии (атомный пар). Поглощательная способность атомного пара находится в прямой зависимости от концентрации химического элемента, поступающего в систему атомизации.
Анализы и тесты методами проточной цитофлуорометрии, проведение клеточных исследований, фенотипирование клеток, анализ структуры клеточного цикла по содержанию ДНК на цитофлуориметре FC500
Микроскопы проходящего и отраженного света, они реализовывают все методы исследования и контрастирования, присущие этим способам освещения. Темное поле в отраженном свете с помощью эпи-объективов высокого класса и специальных конструкций гарантируют высокое качество и контраст в отраженном свете. Устойчивый штатив не выглядит массивным. В данном случае конструкция в виде "пирамиды" позволяет разместить элементы механического и электронного управления микроскопами компактно.
Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.
Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды
Технические характеристики:Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;Полный автоматический контроль.
Анализ почв, грунтов, сыпучих материалов, некоторых отходов и донных отложений на безопасность
Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR
Масс-спектральные тесты предназначены для измерений содержания компонентов, входящих в состав органических и неорганических смесей веществ на MALDI-TOF Autoflex III
Определение примесного состава высокочистых веществ и материалов методами атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой на приборе Thermo iCAP 6300 Duo
Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600
Анализ почвы на безопасность по 13 показателям
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
Качественные анализы и количественные измерения химического и элементного состава органических и неорганических веществ на хромато-масс-спектрометре GCMS-QP2010 Ultra
Для идентификации веществ на основе оптических спектров в инфракрасной области, количественного химического анализа органических и неорганических веществ, применяются в пищевой, фармацевтической, биохимической, химической отраслях промышленности в здравоохранении, аналитическом контроле, научных исследованиях.
Анализ наночастиц, многоцветное иммунофенотипирование, анализ ДНК ,детектирование флуоресцентных белков, анализ стволовых клеток; подсчет числа клеток, исследование взаимодействия клеток с частицами на проточном цитометре CYTOFLEX
Идентификация микроорганизмов с помощью MALDI Biotyper – современный, быстрый и рентабельный метод, основанный на масс-спектрометрическом анализе. Любая микробиологическая лаборатория оценит возможность прямой идентификации колонии МО уже после первичного посева, быструю и простую пробоподготовку, возможность работы с положительными гемокультурами, мочой, ликвором и жидкими средами, содержащих достаточное количество микроорганизмов.
Анализ аминокислотного состава гидролизатов методом высокоэффективной жидкостной хроматографии с помощью аминокислотного анализатора Biochrom 30+ (5 комплектов образцов)
STA 409PC, STA 429CD, STA 449C, TG 209C используются для выполнения измерений термодинамических характеристик (температура и энтальпия фазовых переходов, теплоемкость) твердых и порошкообразных образцов, для контроля качества в фармакологии, строительстве, в производстве биосинтетических препаратов, а также исследования в химии, физике, материаловедении, металлургии, биологии. Диапазоны измерения: температуры, °С от -160 до 2400 от -1270 до 1650 от 20 до 1000 от 20 до 1600 энтальпии от 1 до 100 кДж/кг теплоемкости от 100 до 3000 Дж/кг*К. Погрешности T1,5,5 % T3% T3%.
Измерение поверхности: лазерный сканирующий микроскоп LSM 5 Exciter - с помощью лазерного сканирующего микроскопа LSM 5 Exciter компания Carl Zeiss MicroImaging предлагает пользователям, занимающимся исследованиями материалов и анализом качества, микроскопическую систему, которая также анализирует относительно мягкие материалы, такие как полимеры, с помощью бесконтактной процедуры и с высокой точностью измерения и разрешением. Микроскоп увеличивает скорость, надежность и удобство анализа материала. Специальные функции программного обеспечения позволяют проводить количественный анализ поверхности и анализ материалов. С помощью бесконтактной конфокальной техники можно визуализировать и измерить 2D- и 3D-топографии, определить шероховатость и волнистость, а также измерить пористость и объемное содержание с высокой степенью качества и надежности.
Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 мкм на 15 мкм.
Проведение полного элементного анализа и измерение концентраций химических элементов на рентгенофлуоресцентном спектрометре ARL OPTIM’X
Измерение размера наночастиц; измерение дзета-потенциала коллоидов и наночастиц, измерение абсолютной молекулярной массы макромолекул на Zetasizer Nano ZS
Измерение времени и температуры окислительной индукции
Количественный анализ образца методом жидкостной гибридной хромато-масс-спектрометрии высокого разрешения с помощью времяпролётного масс-спектрометра Triple TOF 5600 (5 комплектов образцов)
спектральный анализ, ИК анализ, анализ газообразных продуктов, термическое разложение, анализ термического разложения
Оптический микроскопический тест лабораторное исследование с возможностью документирования на микроскопе PrimoStar пр-ва Carl Zeiss
Исследования и наблюдения образцов образцов очень небольшого размера в инфракрасном свете через микроскоп HYPERION
ИК-микроскопия используется для анализа образцов в очень малом количестве (от 0,01 до 100 мкг) или малых размеров (от 10–1 до 10–3 мм), а также концентрационных флуктуаций и включений.
Для ИК-Фурье спектроскопии микрообъектов в режиме пропускания образцы должны быть оптически тонкими, т.е. обычно толщиной 5-15 μм. Если образцы расположены на отражающей подложке, можно применять режим отражения. Штатно предлагается 15-кратный объектив, а для более мелких образцов 20 и 36-кратные объективы. Для неотражающих и непрозрачных образцов может использоваться режим НПВО (нарушенного полного внутреннего отражения).
Анализ воды из колодца по 16 показателям: ph, мутность, перманганатная окисляемость, сухой остаток, УЭП, цветность и др.
Исследование тепловых эффектов, измерение теплоемкости, исследование фазовых переходов на термогравиметрическом ДСК анализаторе Netzsch DSC 404 F Pegasus
Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом. (TIMS-TOF-PRO, Ultimate 3000nano UPLC)
Аналитическое исследование на синхронном термическом анализаторе STA 449 F3 (TGA/DSC)
Измерение мутности суспензий , определение концентрации клеток , измерение мутности клеточных суспензий на Денситометре DEN-1B Bio-San
Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Хромато-масс-спектрометрический анализ метаболитов/низкомолекулярных соединений (QExactive, Waters UPLC)
Краткое описание услуги: Хромато-масс-спектрометрическое профилирование метаболома, липидома, Метаболомный анализ клинических образцов.
Оборудование:
Q-Exactive (Thermo Scientific), Waters UPLC (Waters)
Измрение pH и ОВП pH-метром Edge HI 2002-02
Количественный анализ полициклических ароматических углеводородов в почвах методом высокоэффективной жидкостной хроматографии (5 комплектов образцов)
Количественный анализ полициклических ароматических углеводородов в воде и воздухе методом высокоэффективной жидкостной хроматографии
(5 комплектов образцов)
Количественное определение металлов в органических соединениях на хроматографе Agilent 1200 «Agilent», США
Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен
Элементный анализ почвы
Количественное определение хлора в образцах с помощью элементного анализатора MultiEA-5000 (5 комплектов образцов)
Определение антиоксидантной активности на приборе Цвет Яуза А01-АА
Количественное определение галогенов в органических соединениях
Регистрация ИК спектра твердого образца в таблетке KBr на ИК-Фурье-спектрометр Vertex 70 c Раман-приставкой RAM II производства Bruker
Фурье-спектрометр инфракрасный VERTEX 70 предназначен для измерения оптических спектров пропускания, отражения в дальнем, среднем, ближнем ИК диапазонах, а также в видимой и ультрафиолетовой областях электромагнитного спектра, определения концентрации различных веществ в твердой, жидкой и газообразной фазах исследуемых образцов.
Количественный анализ образца методом жидкостной гибридной хромато-масс-спектрометрии (5 комплектов образцов)
Идентификация белков методом масс-спектрометрии МАЛДИ с использованием баз данных Mascott с помощью времяпролетного масс-спектрометра AXIMA-RESONANCE (5 комплектов образцов)