Варианты поиска Открыть Спрятать
  
  илиСбросить
Сортировать по алфавиту: от А до Я
50 На страницу
Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00 ₽

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов

Испытание адгезия клея при нормальном отрыве методом грибка, определение прочности при отрыве
12 000.00 ₽

Испытание адгезия клея при нормальном отрыве методом грибка, определение прочности при отрыве

Испытание на стойкость к удару шаровым копром диаметром 16 мм
10 000.00 ₽

Испытание на стойкость к удару  шаровым копром диаметром 16 мм

Испытание на стойкость к удару шаровым копром диаметром 50 мм
10 000.00 ₽

Испытание на стойкость к удару  шаровым копром диаметром 50 мм

Испытание на стойкость к удару шаровым копром диаметром 8 мм
10 000.00 ₽

Испытание на стойкость к удару  шаровым копром

Испытание на усилие на прокол для пленочных материалов и кожи
10 000.00 ₽

Испытание на усилие на прокол для пленочных материалов

Испытание пластиков и полимеров УФ-старением
1 000.00 ₽

Испытание пластиков и полимеров УФ-старением

Испытание пластмассы на изгиб
12 000.00 ₽

Испытание пластмассы на изгиб 

Испытание пластмассы на сжатие
12 000.00 ₽

Испытание пластмассы на сжатие

Испытание прочности сварного шва из винипласта, поливинилхлоридного пластиката и полиэтилена
12 000.00 ₽

Испытание прочности сварного шва из винипласта, поливинилхлоридного пластиката и полиэтилена

Испытание резины, полимерных пленок, геомембран на раздир
12 000.00 ₽

Испытание резины, полимерных пленок, геомембран на раздир

Испытания на растяжение, исследование прочности, измерение предела текучести пленок, полимеров, пластмасс, полиэтилена, полимерных композитов
12 000.00 ₽

Испытания на растяжение, исследование прочности,  измерение предела текучести пленок, полимеров, пластмасс, полиэтилена, полимерных композитов

Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test
12 000.00 ₽

Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test 

Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 90°
12 000.00 ₽

Исследование адгезии полимерного клея при отслаивании при температуре 180° T-Peel test 

Исследование бараночных и сухарных изделий на влажность, кислотность, сахар, жирность
4 900.00 ₽

Исследование бараночных и сухарных изделий на влажность, кислотность, сахар, жирность

Исследование водопоглощения пластмасс
10 000.00 ₽

Исследование водопоглощения пластмасс 

Исследование и анализ ИК спектра твердого образца в таблетке КВг в диапазоне 3000 - 600 см'1
3 000.00 ₽

регистрация ИК спектра, анализ ИК спектра,  ИК анализ жидкости, ИК исследование, инфракрасный анализ, инфракрасный анализ жидкости

Исследование и анализ оптически активных соединений на спектрополяриметре Perkin Elmer 341
5 000.00 ₽

Поляриметр 341 модели производства фирмы ПеркинЭлмер (США) - универсальный прибор с поляризатором Глена-Тейлора и двумя лампами – Na и Hg, который предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации оптически активными прозрачными и однородными растворами и жидкостями.

Исследование клеточного цикла, количественный анализ ДНК, анализ тромбоцитов, исследование цитоморфологической принадлежности клетки на проточном цитофлюориметре ACEA NovoCyte
5 000.00 ₽
4-лазерный прибор, который может быть сконфигурирован до 25-цветной оптической схемы, с использованием независимых фотоумножителей, тем самым открывая...
Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
112 000.00 ₽

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER
20 000.00 ₽

Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER

Исследование ликёро-водочной продукции, анализ настоек, наливок, ликеров, вина
6 800.00 ₽

Исследование ликёро-водочной продукции, анализ настоек, наливок, ликеров, вина  

Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI
8 200.00 ₽

Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI

Исследование молекулярного примесного и элементного состава высокочистых веществ посредством ИК-Фурье спектрометра Bruker Tensor 27
4 000.00 ₽

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

Исследование морфологии поверхности на SEM сканирующем электронном микроскопе
9 000.00 ₽

Исследование морфологии поверхности на сканирующем электронном микроскопе

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00 ₽

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 

Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
4 800.00 ₽

Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
5 500.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде
14 200.00 ₽

Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде

Исследование образца методом дифференциальной сканирующей калориметрии
8 900.00 ₽

Исследование образца методом дифференциальной сканирующей калориметрии

Исследование образца методом ИК-микроскопии с помощью вакуумного ИК-Фурье спектрометра Vertex 70v и инфракрасного микроскопа HYPERION 3000
18 000.00 ₽

Исследование образца методом ИК-микроскопии с помощью вакуумного ИК-Фурье спектрометра Vertex 70v и инфракрасного микроскопа HYPERION 3000

Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
3 500.00 ₽

Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss

Исследование образца методом синхронного термического анализа (дифференциальная сканирующая калориметрия)
18 000.00 ₽

Исследование образца методом синхронного термического анализа (дифференциальная сканирующая калориметрия)

Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)
72 000.00 ₽

Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)

Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальный термический анализ)
9 000.00 ₽

Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальный термический анализ)

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
3 000.00 ₽

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
2 400.00 ₽

Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра

Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
5 000.00 ₽

Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации

Исследование оптических параметров полупроводниковых материалов на ИК-Фурье спектрометре высокого разрешения Bruker IFS-113v
4 000.00 ₽

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

    Исследование пластмассы измерение модуля упругости, модуля потерь, тангенса угла потерь при нагревании
    20 000.00 ₽

    Исследование пластмассы измерение модуля упругости, модуля потерь, тангенса угла потерь при нагревании

    Исследование поверхности методами оптической микроскопии на универсальном микроскопе отраженного света Carl Zeiss Axioplan 2
    2 000.00 ₽

    Микроскопы проходящего и отраженного света, они реализовывают все методы исследования и контрастирования, присущие этим способам освещения. Темное поле в отраженном свете с помощью эпи-объективов высокого класса и специальных конструкций гарантируют высокое качество и контраст в отраженном свете. Устойчивый штатив не выглядит массивным. В данном случае конструкция в виде "пирамиды" позволяет разместить элементы механического и электронного управления микроскопами компактно.

    Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philips SEM515
    9 800.00 ₽
    Исследование поверхности, исследование топографии микро- и нанообъектов на сканирующем электронном микроскопе Philipls SEM515
    Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR
    6 000.00 ₽

    Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR

    Исследование прочности покрытия при Т-образном изгибе Штампом Эриксена
    10 000.00 ₽

    Исследование прочности покрытия при Т-образном изгибе

    Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии
    4 600.00 ₽

    Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии

    Исследование строения и свойств молекул и молекулярных систем, динамики внутри-межмолекулярных обменных процессов, реакционной способности новых классов органических, элементорганических соединений и полимеров в растворах на Спектрометре ЯМР Bruker Avance
    5 000.00 ₽

    Исследование строения и свойств молекул и молекулярных систем, динамики внутри-межмолекулярных обменных процессов, реакционной способности новых классов органических, элементорганических соединений и полимеров в растворах на Спектрометре ЯМР Bruker Avance II 400

    Исследование твердого образца методом пиролитической газовой хромато-масс спектрометрии
    30 000.00 ₽

    Исследование твердого образца методом пиролитической газовой хромато-масс спектрометрии

    Исследование твердого образца методом спектроскопии диффузного отражения в УФ- и видимой областях спектра.
    5 000.00 ₽

    Исследование твердого образца методом спектроскопии диффузного отражения в УФ- и видимой областях спектра.

    Исследование твердого образца методом спектрофлуориметрии
    4 600.00 ₽

    Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии

    Исследование твердого образца методом термодесорбционной газовой хромато-масс спектрометрии
    18 000.00 ₽

    Исследование твердого образца методом термодесорбционной газовой хромато-масс спектрометрии

     Назад
    1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
    Вперед 
        Отменить