Качественное определение состава образца органических соединений методом газовой хромато-масс-спектрометрии
Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
Исследования и наблюдения образцов образцов очень небольшого размера в инфракрасном свете через микроскоп HYPERION
ИК-микроскопия используется для анализа образцов в очень малом количестве (от 0,01 до 100 мкг) или малых размеров (от 10–1 до 10–3 мм), а также концентрационных флуктуаций и включений.
Для ИК-Фурье спектроскопии микрообъектов в режиме пропускания образцы должны быть оптически тонкими, т.е. обычно толщиной 5-15 μм. Если образцы расположены на отражающей подложке, можно применять режим отражения. Штатно предлагается 15-кратный объектив, а для более мелких образцов 20 и 36-кратные объективы. Для неотражающих и непрозрачных образцов может использоваться режим НПВО (нарушенного полного внутреннего отражения).
Исследования и измерения свойств овощных маринадов на массовую долю овощей, растворимых сухих веществ, хлоридов, жиров, кислот, сахаров, осадка
Исследования и анализы ягодных и овощных соков и экстрактов плодовых, измерение растворимых сухих веществ, титруемых кислот, осадка, хлоридов в соках
Исследования и анализ спектров люминесценции, измерение времен жизни возбужденных состояний молекул, исследование молекулярной динамики на Спектрофлуориметре Fluorolog-3 HORIBA
Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
Определение примесного состава высокочистых веществ и материалов методами атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой на приборе Thermo iCAP 6300 Duo
Исследование элементного анализа концентраций матричного состава посредством атомно-эмиссионного микроскопа Carl Zeiss AAS-3
В спектрофотометре используется метод атомно-абсорбционного спектрального анализа с использованием пламенной атомизации. Для анализа используется тип пламени «ацетилен - воздух». Принцип действия спектрофотометра основан на спектрально - селективном поглощении излучения атомов определяемого элемента, находящегося в свободном состоянии (атомный пар). Поглощательная способность атомного пара находится в прямой зависимости от концентрации химического элемента, поступающего в систему атомизации.
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0,1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.
Возможна работа в режиме АСМ и СТМ.
Возможность работы в контактном, прерывисто-контактном и бесконтактном режиме.
Производитель: ЗАО “НТ-МДТ”, Россия
Основные технические характеристики
Диффузионная длина (LD) 10 ÷ 2000 мкм при LD < t
Концентрация металла (Fe) 10⁹ ÷ 10¹³ см⁻³
Погрешность измерений: 15 ÷ 30 >#/p###
Исследование фазовых равновесий в среде сверхкритического флюида
Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 мкм на 15 мкм.
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного термоанализа с идентификацией продуктов разложения
Исследование термодеструкции образца методом совмещенного спектрального термоанализа
Исследование тепловых эффектов, измерение теплоемкости, исследование фазовых переходов на термогравиметрическом ДСК анализаторе Netzsch DSC 404 F Pegasus
Исследование твердого образца методом термодесорбционной газовой хромато-масс спектрометрии
Исследование растворенного образца методом спектрофлуориметрии
Исследование твердого образца методом спектроскопии диффузного отражения в УФ- и видимой областях спектра.
Исследование твердого образца методом пиролитической газовой хромато-масс спектрометрии
Исследование строения и свойств молекул и молекулярных систем, динамики внутри-межмолекулярных обменных процессов, реакционной способности новых классов органических, элементорганических соединений и полимеров в растворах на Спектрометре ЯМР Bruker Avance II 400
Исследование прочности покрытия при Т-образном изгибе
Исследование примесного состава газо- и жидкофазных систем методом ИК-фурье-спектроскопии высокого разрешения на приборе Bruker IFS-125HR
Микроскопы проходящего и отраженного света, они реализовывают все методы исследования и контрастирования, присущие этим способам освещения. Темное поле в отраженном свете с помощью эпи-объективов высокого класса и специальных конструкций гарантируют высокое качество и контраст в отраженном свете. Устойчивый штатив не выглядит массивным. В данном случае конструкция в виде "пирамиды" позволяет разместить элементы механического и электронного управления микроскопами компактно.
Исследование пластмассы измерение модуля упругости, модуля потерь, тангенса угла потерь при нагревании
Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п., для применения в качестве отдельных автономных приборов, так и в составе автоматизированных систем управления качеством технологического процесса в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.
Исследование образца методом ядерной магнитной релаксации
Исследование образца методом спектрофотометрии в УФ- и видимой области спектра
Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальный термический анализ)
Исследование образца методом синхронного термического анализа (термогравиметрия, дифференциальная сканирующая калориметрия, детектирование выделяющихся газов методом ИК спектроскопии)
Исследование образца методом синхронного термического анализа (дифференциальная сканирующая калориметрия)
Исследование образца методом оптической микроскопии на микроскопе высокого разрешения Imager Carl Zeiss
Исследование образца методом ИК-микроскопии с помощью вакуумного ИК-Фурье спектрометра Vertex 70v и инфракрасного микроскопа HYPERION 3000
Исследование образца методом дифференциальной сканирующей калориметрии
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в жидкой среде
Исследование образца методом атомно-силовой микроскопии в воздушной среде
Исследование на акустическом микроскопе для объемных структур KSI v-350lm
Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
Исследование морфологии поверхности на сканирующем электронном микроскопе
Исследование магнитооптического эффекта Керра и наблюдение магнитных доменов на тонких пленках на установке Neoark BH-PI7892-KI
Исследование ликёро-водочной продукции, анализ настоек, наливок, ликеров, вина
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов, определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, Рентгеноструктурный анализ на дифрактометре D8 DISCOVER