Варианты поиска Открыть Спрятать
  
  илиСбросить
Определение суммарного содержания растворимых протеинов в жмыхе на установке для разложения по методу Къельдаля Turbotherm
2 800.00 

Определение суммарного содержания растворимых протеинов в жмыхе на установке для разложения по методу Къельдаля Turbotherm по стандарту ГОСТ 13979.3-68


Определение содержания небелкового азота в молоке и молочных продуктах с применением метода Кьельдаля на установке для разложения по методу Къельдаля Turbotherm
2 500.00 

Определение содержания небелкового азота в молоке и молочных продуктах с применением метода Кьельдаля на установке для разложения по методу Къельдаля Turbotherm  по стандарту ГОСТ 23327-98


Определение массовой доли общего азота по Кьельдалю и определение массовой доли белка на установке для разложения по методу Къельдаля Turbotherm
1 600.00 

Определение массовой доли общего азота по Кьельдалю и определение массовой доли белка на установке для разложения по методу Къельдаля Turbotherm


Количественное определение 9-ти водорастворимых витаминов: витамины группы В: тиамин (В1), рибофлавин (В2), никотиновая кислота (РРк), никотинамид (РРа), пантотеновая кислота (В5), пиридоксин (В6), биотин (Н), фолиевая кислота (В9), цианокоболамин (В12)
11 000.00 

Количественное определение 9-ти водорастворимых витаминов:  витамины группы В: тиамин (В1), рибофлавин (В2), никотиновая кислота (РРк), никотинамид (РРа), пантотеновая кислота (В5), пиридоксин (В6), биотин (Н), фолиевая кислота (В9), цианокоболамин (В12)


Определение содержания триптофана (TRP) методом ионообменной хроматографии с постколоночной дереватизацией нингидрином на Аминокислотном анализаторе LC-20 Prominence
2 400.00 

Определение триптофана (TRP) методом ионнообменной хроматографии с постколоночной дереватизацией нингидрином на Аминокислотном анализаторе LC-20 Prominence


Высококонтрастная визуализация и биологический анализ на клеточном уровне
4 500.00 

Определение широкого спектра явлений на клеточном уровне: апоптоз; клеточный цикл; клеточное деление; клеточная миграция; клеточная морфология; изменение формы клеток; реорганизация цитоскелета; цитотоксичность; in situ флуоресцентная гибридизация (FISH); анализ липидных частиц; развитие нервных клеток; экспрессия белков; анализ сигнальных путей; активация рецепторов; РНК тестирование; факторы транскрипции (Система in vitro высококонтрастной визуализации (Operetta);


Анализ наночастиц, многоцветное иммунофенотипирование, анализ ДНК, детектирование флуоресцентных белков, анализ стволовых клеток, подсчет числа клеток, исследование взаимодействия клеток с частицами на проточном цитометре CYTOFLEX
2 400.00 

Анализ наночастиц, многоцветное иммунофенотипирование, анализ ДНК ,детектирование флуоресцентных белков, анализ стволовых клеток; подсчет числа клеток, исследование взаимодействия клеток с частицами на проточном цитометре CYTOFLEX


Измерение размера наночастиц; измерение дзета-потенциала коллоидов и наночастиц, измерение абсолютной молекулярной массы макромолекул на Zetasizer Nano ZS
2 000.00 

Измерение размера наночастиц; измерение дзета-потенциала коллоидов и наночастиц, измерение абсолютной молекулярной массы макромолекул на Zetasizer Nano ZS


Измерение спектров поглощения в ультрафиолетовом, видимом и инфракрасном диапазонах на спектрофлуориметре FluoroMax 4 HORIBA (за 1 час работы)
2 200.00 

Измерение спектров поглощения в ультрафиолетовом, видимом и инфракрасном диапазонах на спектрофлуориметре FluoroMax 4 HORIBA


Биологическая визуализация и измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также химический анализ поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution
2 600.00 

Биологическая визуализация и измерение содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах по спектрам комбинационного рассеяния, а также химический анализ поверхности твердых образцов на LabRam HR Evolution


Секвенирование на HiSeq 4000, 50 циклов, 1 из 8 дорожек
12 000.00 

Секвенирование  на HiSeq 4000, 50 циклов, 1 из 8 дорожек


Секвенирование на HiSeq 4000, 150 циклов, 1 из 8 дорожек
13 700.00 

Секвенирование  на HiSeq 4000, 150 циклов, 1 из 8 дорожек


Секвенирование на HiSeq 4000, 300 циклов, 1 из 8 дорожек
17 500.00 

Секвенирование  на HiSeq 4000, 300 циклов, 1 из 8 дорожек


Секвенирование на MiniSeq, 75 циклов, 1 запуск
7 500.00 

Секвенирование на MiniSeq, 75 циклов, 1 запуск 


Секвенирование на MiniSeq, 150 циклов, 1 запуск
11 000.00 

Секвенирование на MiniSeq, 150 циклов, 1 запуск 


Секвенирование на MiniSeq, 300 циклов, 1 запуск
15 800.00 

Секвенирование на MiniSeq, 300 циклов, 1 запуск


Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
130 000.00 

Визуализация многослойных структур и гетероструктур с атомарным разрешением на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z


Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
222 000.00 
Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором

Исследование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S
99 000.00 
Исследование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS) (получение...

Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором
145 000.00 

Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной спектроскопии EDX с атомным разрешением по 3 областям на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themiz S с пробкорректором


Определение элементного состава с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии с картированием по 3 областям на ПЭМ микроскопе Titan Themis Z с пробкорректором
75 000.00 

Определение элементного состава с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии с картированием по 3 областям на ПЭМ микроскопе Titan Themis Z


Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z с пробкорректором
221 000.00 

Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z


Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
112 000.00 

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z


Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z
99 000.00 

Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций на просвечивающем электронном микроскопе Titan Themis Z


Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z
60 000.00 

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ и СПЭМ режимах на просвечивающем электронном микроскопе с пробкорректором Titan Themis Z


Геометрические измерения в X Y Z плоскости с точностью до 1 мкм на видеоизмерительной машине
4 000.00 

Геометрические измерения в X Y Z плоскости с точностью до 1 мкм на видеоизмерительной машине


Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
Свяжитесь с нами насчёт цены

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM


Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
60 000.00 

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца по линии на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM


Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
32 000.00 

Изготовление и визуализация кросс секции на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM


Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM
62 000.00 

Элементный анализ образца с картированием по 3 областям на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe FPIB/SEM


Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
34 000.00 

Проведение элементного анализа образца по 5 точкам на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM


Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов
30 000.00 

Изучение морфологии поверхности образца на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEMс детектором обратно рассеянных электронов


Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM
24 000.00 

Анализ морфологии частиц на двухлучевом сканирующем электронном микроскопе Helios G4 UXe PFIB/SEM


Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro с возможностью работы в низком вакууме
24 000.00 
Исследование элементного состава образца с картированием по 3 областям на сканирующем электронном микроскопе Quattro  с возможностью работы в низком...

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S
14 000.00 

Исследование элементного состава образца на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме Quattro S


Изучение морфологии и поверхности образца на сканирующем электронном микроскопе Quattro с низким вакуумом и детектором обратно рассеянных электронов
20 000.00 

Изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен


Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S
14 000.00 

Исследование морфологии частиц на сканирующем электронном микроскопе с возможностью работы в низком вакууме SEM Quattro S 


Аренда двухлучевого сканирующего электронного микроскопа Helios G4 Plasma FIB Uxe (с оператором ЦКП) за час
16 000.00 

Микроскоп двухлучевой электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.


Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час
9 000.00 

Аренда сканирующего электронного микроскопа Quattro S с возможностью работы в низком вакууме (с оператором ЦКП) за час


Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час
20 000.00 

Аренда Просвечивающего (сканирующего) электронного микроскопа Titan Themis Z (с оператором ЦКП) за час

Просвечивающий (сканирующий) электронный микроскоп Titan Themis Z позволяет изучать тонкую структуру образцов. Микроскоп Titan Themis Z оснащен пробкорректором для коррекции сферических аберраций, что существенно улучшает разрешающую способность микроскопа. Микроскоп оснащен приставками для проведения элементного анализа с использованием методик энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (Super-X EDX детектор) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (Quantum 965). Методики, используемые в электронной микроскопии, такие как HRTEM, HRSTEM, EDX, EELS, Mono-STEM-EELS, STEM-EELS, HAADF, ABF и др. позволяют получить полное представление о структуре, наличии дефектов в кристаллической структуре, фазовом и химическом составе и др.

Год, фирма-изготовитель, страна-изготовитель: 2017, TFS (ThermoFisherScientific), Нидерланды

titan

Технические характеристики:
Разрешающая способность в просвечивающем режиме 120 пм;
Разрешающая способность в сканирующем режиме с пробкорректором 60 пм;
Разрешающая способность монохроматора 0,15 эВ;
Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм;
Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы на ускоряющих напряжениях: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ;
Детектор Super-X EDX для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (≤ 136 эВ для линии Mn-Kα и ≤ 140 эВ для Mn-Kα);
Детектор Quantum 965 для спектроскопии энергетических потерь электронов;
Полный автоматический контроль.



Пробоподготовка, обессоливание образца ZipTip (до 25 мкг)
1 400.00 

Пробоподготовка, обессоливание образца ZipTip (до 25 мкг)


Гидролиз белка (образец до 100 мкг) трипсином в растворе/в геле
3 000.00 

Гидролиз белка (образец до 100 мкг) трипсином в растворе/в геле


Масс-спектрометрический анализ образца с использованием MALDI-TOF
Свяжитесь с нами насчёт цены

Масс-спектрометрический анализ образца с использованием MALDI-TOF


Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом
24 000.00 

Протеомный анализ белкового препарата включающий: гидролиз белка трипсином, обессоливание образца ZipTip, хромато-масс-спектрометрический анализ в 3-х повторностях (градиент до 120 мин), идентификация белков биоинформационным анализом. (TIMS-TOF-PRO, Ultimate 3000nano UPLC)


Хромато-масс-спектрометрический анализ пептидов, идентификация микроорганизмов, дифференциация штаммов (TIMS-TOF-PRO, Ultimate 3000nano UPLC) градиент до 120 мин
8 000.00 
Описание лабораторного исследования Хромато-масс-спектрометрический анализ пептидов (TIMS-TOF-PRO, Ultimate 3000nano UPLC) градиент до 120 мин...

Хромато-масс-спектрометрический анализ метаболитов/низкомолекулярных соединений (QExactive, Waters UPLC), 120 минут
8 000.00 

Хромато-масс-спектрометрический анализ метаболитов/низкомолекулярных соединений (QExactive, Waters UPLC)

Краткое описание услуги:  Хромато-масс-спектрометрическое профилирование метаболома, липидома, Метаболомный анализ клинических образцов. 

Оборудование: 

Q-Exactive (Thermo Scientific), Waters UPLC (Waters)


Хромато-масс-спектрометрический анализ метаболитов/низкомолекулярных соединений (QExactive, Waters UPLC), 60 минут
6 000.00 

Хромато-масс-спектрометрический анализ метаболитов/низкомолекулярных соединений (QExactive, Waters UPLC)

Краткое описание услуги:  Хромато-масс-спектрометрическое профилирование метаболома, липидома, Метаболомный анализ клинических образцов. 

Оборудование: 

Q-Exactive (Thermo Scientific), Waters UPLC (Waters)


Гидролиз белка (образец до 100 мкг) трипсином по протоколу FASP
4 000.00 

Гидролиз белка (образец до 100 мкг) трипсином по протоколу FASP


Исследование топографии поверхности с суб-нанометровым разрешением, исследование свойств поверхности, профилометрия на сканирующем атомно силовом микроскопе P100
6 000.00 

Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 мкм на 15 мкм. 


Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов, количественный и качественный анализ вещества рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600
4 000.00 

Проведение анализа элементного состава твердых и жидких образцов рентгенофлуоресцентным спектрометром EDX3600

    Отменить